价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 l;M,=ctB(
课程共三十节 0fc;H}B*
课程简介：
?e%*q^~Cu 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
0f4 y"9m 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
d=1\= d/K 课程大纲：
N8]DzE0% 1. 软件基础入门
Y[*. ^l._ 软件简介
_'p/8K5)= 软件计算方法简介
,Uh^e]pC 程序基本框架和全局
参数设置
F=\
REq 程序中使用的各种术语的定义
D;sG9H ky 
uh\G6s!4/ 2. 图表
uQG| r)
绘图和制表来表示性能
wOH:'sk[" 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
" I LF!z 交互式绘图的使用
S{llpp{E 3. 材料管理
(XK,g;RoEn 材料的获取
<*vR_?!
材料的导入与导出
bI.hG32 材料数据平滑与插值
SX,$ $43 用包络法推导介质膜的光学常数
@@ j\OR 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
j32*9 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
c{^1`(#? 4. 薄膜设计与优化简介
L I KuK# 优化与合成功能说明
:@(1~Hm 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
2UQF:R?LQ 膜层锁定和链接
e;v7!X 减反膜优化
"%K'~"S#Q, 高反膜优化
#-%D(=&I 滤光片优化
+< $(ez 斜入射光学薄膜
;9~YQW@| 5. 反演工程
qFVZhBC 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
27}:f?2hbJ 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
x,: k /] 6. 分析工具
Cuylozj$& 颜色模型和分析工具
y/@Bhzc 公差工具和良品率预估
oW
OR7)?r 灵敏度分析
*BxU5)O 7. 附加模块-Vstack
vdXi'< 非平行平面镀膜
O:v#M] 棱镜镀膜透反吞吐量评估
J"#6m&R_q 8. 附加模块-DWDM
'*[7O2\%/ 光通信用窄带滤光片
模拟 h~Q Q- 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
e!=7VEB 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
8K^#$,.." 镀膜沉积过程噪声信号模拟
>0 7i"a 10. 附加模块-Function
75>%!mhM 如何在Function中编写脚本
em7L `, 案例：自定义画图
^WU[ +H ; 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
M*'8$|Z 案例：膜厚变化颜色变化
