价格：4500，VIP:4410 SVIP:4275 {C N~S*m
课程共三十节 >]vlkA(
课程简介：
yj.7'{mA 当收到需求者的
光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜
材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业
软件或自行设计电脑软件来参与合成或
优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直到合格为止。
_ =VqrK7T 课程涵盖Macleod软件所有模块、光学
薄膜膜系设计与优化方法。培训期间针对实例，演示完整的光学薄膜设计与分析过程。课程旨在让各界相关技术人员快速知悉软件的各项功能的同时，并通过相关的实例演示掌握该软件在光学镀膜领域的具体应用。
Oa gsoik 课程大纲：
i\rDu^VQ 1. 软件基础入门
]Hefm?9*^ 软件简介
`ux{ ;4q 软件计算方法简介
`3WFjU 5a 程序基本框架和全局
参数设置
A#J`;5!Sc 程序中使用的各种术语的定义
@a0DT=>d T 
q %"VYt4 2. 图表
dQA'($ 绘图和制表来表示性能
%1xb,g KO 3D绘图-用两个变量绘图表示性能
_n50C"X=&( 交互式绘图的使用
`n @*{J8 3. 材料管理
|8l<$ J 材料的获取
8y.wSu
材料的导入与导出
V8C:"UZ; 材料数据平滑与插值
q(.sq12<<W 用包络法推导介质膜的光学常数
O
@j} K4 利用
光谱仪的测量值计算基底光学常数
ZJzt~
H 材料模型拟合(Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann)
Vy Xhl; 4. 薄膜设计与优化简介
iW%I|& 优化与合成功能说明
DpvI[r//'* 优化目标&评价函数(Simplex, Optimac, Simulated Annealing, Conjugate Gradient, Quasi-Newton, Needle, Differential Evolution, Non-Local)
OuID%p"O 膜层锁定和链接
bU2Z[sn. 减反膜优化
y[)> yq y 高反膜优化
#mCL) [ 滤光片优化
RL@VSHXc 斜入射光学薄膜
vZa Zc}AyL 5. 反演工程
;S ^'V 镀膜过程中两种主要的误差（
系统误差和随机误差）
r") `Ph@yp 使用反演工程来控制对设计的搜索，该设计代表实际生产的产品
}J:U=HJ 6. 分析工具
v4`"1Ss,K 颜色模型和分析工具
0zlb0[ 公差工具和良品率预估
:toh0oB[ 灵敏度分析
:OhHb #D 7. 附加模块-Vstack
!Sh&3uy_qN 非平行平面镀膜
`(ue63AZ 棱镜镀膜透反吞吐量评估
t\~P:" 8. 附加模块-DWDM
!sQY&* 光通信用窄带滤光片
模拟 |Mu p8(gCk 9. 附加模块-Runsheet&Simulator
=hC,@ R>; 光控机器设置显示镀膜过程中预期的监测信号
wsZF;8u t 镀膜沉积过程噪声信号模拟
M/>7pZW 10. 附加模块-Function
s
E2 D#D 如何在Function中编写脚本
@ "Fme-~ 案例：自定义画图
]6(N@RC 案例：
太阳能抗反射薄膜分析
A@1W}8qY: 案例：膜厚变化颜色变化
