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仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 '0t-]NAc 0$P/jt O'DW5hBL0 ^TFs;|.. 建模任务 H+C6[W= yTBS=+X TMVryb
@aG&n(.!u* xN"Z1n7t 准直系统 C+V*
Fh3 M>H=z#C>/A b.yh8|& 0b|zk < 非序列追迹 .[s2zI ]MTbW=*}ED
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2#5,MP~r IB5BO7J 系统光线追迹结果 9.+/~$Ht
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