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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 ?B@3A)a
*> HS>#S 关于此用例
^6b 5}{> • 需要以下工具箱 ko|M 2 \ - 基本工具箱 I!}V+gu= • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） (XlvPcTi • 在此处获得免费试用版 .l|29{J 此用例展示了… 6pt|Crvu • 如何构建GRIN透镜 ';}:*nZ//_ • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 vE1:;% Q B.KK@  @4KKm@(p85 GRIN透镜的构建 >FS%-eI6 I[b{*g2Zw  e
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6, |>;,U7 GRIN透镜：GRIN介质 lHPnAaue@ [k75+#'  { U@"]{3Qx
 8k )*f+1o EQk o mjv 系统设置：探测器和连接 }_-tJ. · 探测器说明： > 5?c93? − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 +t&+f7 {<a)+S.6U  /reGT! u ( kyRx+gA 仿真结果：光线追迹分析 ?"T!<L \ So)g)K  3sIdwY)ZS_ 仿真结果：场追迹分析 E{QjmlXQ< Hyen n
 *_m ER` 系统设置：寻找像面 vO53?vN[m9 O_GHvLO=
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9YB?wh'S[ 仿真结果：光线分析和场追迹分析 8r:T&)v H|,d` @U  dd;rne v+ 8|$g"? CU
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