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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 xq+$Q:f
xjB2?:/2 关于此用例 0Aw.aQ~E8i • 需要以下工具箱 Vui5Z K - 基本工具箱 , TPNsz|Q • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） -Zc
6_]F| • 在此处获得免费试用版 aRPgo0,W1 此用例展示了… WW82=2rJ9 • 如何构建GRIN透镜 Rs,\{# • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 v*`$is+ DP **pf%j  ;S5*n:d GRIN透镜的构建 j3jf:7 /\ :=Wi T_M  l&2A]5C
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U GRIN透镜：GRIN介质 }UNRe]ft$ )X2=x^u*U  | Z'NMJU
 aTF~rAne< c+chwU0W 系统设置：探测器和连接 CKwrE ]h · 探测器说明： rM<|<6( L − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 P6V_cw$ r Z 5 vey  o5?f]Uq5 , g]?&qF} 仿真结果：光线追迹分析 m?bd6'&FR
T[*1*303  d YV' < 仿真结果：场追迹分析 "\M16N 8?#4<4Ql8
 Q`k=VSUk 系统设置：寻找像面 YCZl1ry:V= 6p`A dDV
 4# Wc zk-b
)HbsUm# 仿真结果：光线分析和场追迹分析 Lt>"R! "x ): HjpJvF  (8DJf"} 8sb <$M$c
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