[技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

?hAO-*);  
摘要 P3YM4&6XA  
o=#ym4hJ%  
                       q6*i/"mN*  
     i#^YQCy  
Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 J+Fev.9>  
4DDBf j  
建模任务 =L@CZ"  

Yyar{$he  
/}2Y-GOU  
具有高反射(HR)涂层的标准具 <KK.f9^o(  
}Xk_ xQVt{  
"g)bNgGV}  
rW|%eT*/'A  
图层矩阵解算器 ,;
5%&T  
Cg?Mk6i  
SOX7  
[mQ1r*[j  
+."|Y3a  
        分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 - f ^!R  
1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 @%*2\8}C!  
2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 (J.Z+s$:2  
        本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 *U
6+b  
        这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。 fzw:[z:%  
更多的信息： B6;>V`!  
l`l6Y>c*]  
总结-组件 [0105l5  
V_, `?>O  
^n<YO=|u  
h,B4Tg'  
[ `1`E1X  
ab2Cn|F  
两条光谱线的可视化 ! [1aP,  
*k;bkd4x  
精细vs.涂层反射率 Fbu4GRgJ3  
+TA~RCd  
g 8uq6U  
:j .:t  
精细度vs.涂层反射率 M*qE)dZjS  
kaQNcMcq  
64#Ri!RR}  
内部谐振增强 n{<}<SVY  
ZO/Jf Jn~  
nA_'jl  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 [e ztu9  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 xM!9$v  
~XP|dn}  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心  !QvmzuK  
.tGz,z}  
VirtualLab Fusion技术 S>h\D
4.  
h!JyFc