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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
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    摘要 f*VXg[&\\F  
    F6"s&3D{  
                          
    Qkc 9X0J!  
         $"MGu^0;1  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 ;jBS:k?  
     SWyJ`  
    建模任务 uavyms^  
    bgkBgugZhX  
    ~g;)8X;;+  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 #c~- 8=  
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    ]@}o"Td  
    图层矩阵解算器 q#\B}'I{  
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    Y' 5X4Ks|  
    RMdU1@  
    &-m}w:j=  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 4M+f#b1  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 VKg9^%#b`[  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 <;cch6Z  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 fUZCP*7>  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 MPF({Pnx7  
    更多的信息: +fq\K]  
    yw1Xxwc  
    总结-组件 ,fo7. h4{  
    OF:0jOW  
    v9(N}hoP  
    Qh* }v!3Jo  
    5xU}}[|~-  
    ?~cO\(TY["  
    两条光谱线的可视化 `'gcF });  
    q Oa*JA`  
    精细vs.涂层反射率 vFeR)Ox's  
    9E|QPT  
    L=P8;Gj)  
    ^==Tv+T9U  
    精细度vs.涂层反射率 %Z8pPH~T  
    ,wy;7T>ODd  
    `, 4YPjk^  
    内部谐振增强
    7Q,<h8N\5  
    L x iN9  
    D&]xKx  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 /;xrd\du  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 k0TQFx.A  
    &3)6WD?:U  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 =l6W O*  
    Yq:/dpA_  
    VirtualLab Fusion技术 `>RM:!m6=$  
    ]/AU_&  
     
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