切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 458阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5627
    光币
    22287
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2023-01-04
    pzcl@  
    摘要 u3k{s  
    *x<3=9V  
                          
    zbL8 pp  
         6 3NhD  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中,用于敏感波长的滤波。通常,它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中,建立了一个以硅为间层的标准光学测量系统,以测量钠D线。利用非序列场追迹技术,充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响,研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 Sb|9U8h  
    ZzO^IZKlC  
    建模任务 Ovhd%qV;Y  
    vVy X[ZZ  
    j3Yz=bsQ{c  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 w=Yc(Y:h  
    qib4DT$v-6  
    dI%#cf1  
    w9aLTLv-  
    图层矩阵解算器 |y%M";MI  
    #,5v#| u|7  
    }od5kK;  
    FhFP M)[  
    *dpKo&y  
            分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 -tH^Deo  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 %+bw2;a6  
    2. 一个s矩阵,用于在所有接口处匹配边界条件。 \2^_v' >K  
            本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 h?-*SLT  
            这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名,因为与传统的传递矩阵不同,它避免了计算步骤中的指数增长函数。 ls,;ozU  
    更多的信息: GE!fh1[[u  
    it)!-[:bm  
    总结-组件 LD gGVl  
    >g+e`!;6  
    mzbMX <  
    x!`~+f.6  
    #\T5r*W  
    zf.&E3Sn  
    两条光谱线的可视化 YcdT/  
    hhr!FQ.+/  
    精细vs.涂层反射率 iebnQf  
    ]b&O#D9  
    o/\f+iz7  
    mGC!7^_D`  
    精细度vs.涂层反射率 1$RUhxT  
    *t_JR  
    W&s@2y?rF  
    内部谐振增强
    pRc<U^Z.h  
    zy\R>4i'#Q  
    ,b'QL6>`  
        整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 ]1dnp]r  
        请注意,在我们的示例中,使用的是真实的涂料。通过设计,具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠,因此更厚,这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 =;m;r!,K  
    f}ES8 Hh[  
        注意: 传输值取自艾里图案的中心 l|" SM6  
    48g`i  
    VirtualLab Fusion技术 4iC=+YUn  
    TO]7%aB  
     
    分享到