华为EUV光刻新专利:解决相干光无法匀光问题
据报道,华为周二公布了一项新专利,展示了一种《反射镜、光刻装置及其控制方法》,而这种方法便能够解决相干光因形成固定的干涉图样而无法匀光的问题,在极紫外光的光刻装置基础上进行了优化,进而达到匀光的目的。 专利名称:反射镜、光刻装置及其控制方法 专利申请号:CN202110524685.X 该专利提供一种光刻装置,该光刻装置通过不断改变相干光形成的干涉图样,使得照明视场在曝光时间内的累积光强均匀化,从而达到匀光的目的,进而也就解决了相关技术中因相干光形成固定的干涉图样而无法匀光的问题。 该光刻装置包括相干光源 1、反射镜 2 (也可以称为去相干镜)、照明系统 3。其中,反射镜 2 可以进行旋转;例如,可以在光刻装置中设置旋转装置,反射镜 2 能够在旋转装置的带动下发生旋转。在该光刻装置中,相干光源 1 发出的光线经旋转的反射镜 2 的反射后,通过照明系统 3 分割为多个子光束并投射至掩膜版 4 上,以进行光刻。 在光刻装置中,上述照明系统 3 作为重要组成部分,其主要作用是提供高均匀性照明 (匀光)、控制曝光剂量和实现离轴照明等,以提高光刻分辨率和增大焦深。 |