干涉测量法是
光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高
精度的
机械和热变形。 作为一个典型示例,在
VirtualLab Fusion中借助非
序列场追迹,构建了具有相干
激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了
光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。
*K;~V >&R|t_ypw $f+9svq .1@5*xQ5O 建模任务 [o~w>,a -3fvO~ -[ =`bHo &Ru6Yt0W 元件倾斜引起的干涉条纹 1gC=xMAT 7"NUof?i MAXdgL[] 4{Iz\:G:{/ 元件移动引起的干涉条纹 }Y[.h=X
z)26Ahm TV
L4!$bB~L- &Wba2fD 走进VirtulLab Fusion y!#1A?|k
Oj:`r*z43
EQ28pAZ 46vz=# ,6L VirtualLab Fusion工作流程 =<g\B?s] ()rDM@ mUjA9[@ ^^Ius ] vq{:=:5'P G*QQpSp Na=q(OKN VirtualLab Fusion技术 qRUz;M4
%63<Iz"
D526X0