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    [技术]分辨率的分析 [复制链接]

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    离线infotek
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2022-10-17
    Y>T-af49  
    如何更好地分辨物体是光学科学界一直存在的问题,因此如何判断光学系统分辨率是一个重要的问题。根据Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我们在VirtualLab Fusion中演示了阿贝分辨率极限和瑞利判据,并说明了如何使用这两种分析来评估典型成像系统的性能。 \?ZB]*Fu  
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    用瑞利准则研究显微镜物镜的分辨率 vHc%z$-d  
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    根据瑞利判据,我们研究了三种不同数值孔径的显微物镜的分辨率。 0c]/bs{}  
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    阿贝理论成像的论证 A_ZY=jP   
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    8.=BaNU  
    |?xN\O^#}  
    我们搭建了成像系统,以金属光栅为实验对象,利用VirtualLab Fusion演示了阿贝的成像理论。
     
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