[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 uQ
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1. 案例 CF3E]dt  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 E/wQ+rv  
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1. 系统构建模块 i(M(OR/4  
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2. 组件连接器 F-$Z,Q]S  
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几何光学仿真 #joF{M{  
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以光线追迹 *C4~}4WT\  
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1. 结果：光线追迹 =gW"#ZjL){  
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快速物理光学仿真
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以场追迹 CCuxC9i7  

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1. NA=1.4时的光栅成像 4]"a;(  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 @kwLBAK}@  
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3. NA=0.5时的光栅成像 qzz[y#q(  
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