[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

]7#@lL;'0  
显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 /Dh[lgF0C  
NZj_7j|o9  
C^dnkuA  
MV+S.`R  
1. 案例 >_ )~
"Ra  
hqPpRSv'  
FN-j@
 
  'Fe1]B"Y  
在VirtualLab Fusion中构建系统 >Ei-Spy>Xl  
=|@%5&.P  
1. 系统构建模块 W
ix/Az  
kO1.27D  
/MHml0u  
f,e7;u z%  
2. 组件连接器 Iy2KOv@a5  
pO2Y'1*  
d|nJp-%V  
  'Z<V(;W  
几何光学仿真 e-}b]\  
)v4?+$g  
以光线追迹 {;iG}jK  
>9h@Dj[|!  
1. 结果：光线追迹 f/_RtOSw  
`0]kRA8=  
L}>XH*  
  \P3[_kbf1  
快速物理光学仿真 Wq4>!|  
Ym)8L.  
以场追迹 w]BZgF.  
wEMh !jAbv  
1. NA=1.4时的光栅成像 )\iOwA  
.x 1& 
  
c[/h7
!/aH  
     xB%Felz  
2.  NA=0.75时的光栅成像 n+C,v.X  
   JZCRu_M>|  
eyx;8v cM  
     U\_-GS;1  
3. NA=0.5时的光栅成像 ]3+xJz~=  
       hQm"K~SW
=  
'+!@c&d#%o