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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 ^+l\YB7pD wk7_(gT`0
(+v*u ]w4 cg5{o|x 建模任务 T1]X cNB$g )` @tp7tB ; 仿真干涉条纹 Xr6 !b:UX 2 g8P$+;
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•使用导入的数据自定义表面轮廓 ~F6gF7]z •定义元件的位置和方向 ?B!ZqJ# − LPD II:位置和方向[教程视频] "4AQpD •正确设置通道以进行非序列追迹 \uPTk)oaB −非序列追迹的通道设置[用例] D}U<7=\3H •使用参数运行检查影响/变化 e%Xf*64 −参数运行文档的使用[用例] CXFAb1m ;I@L U:jf9L2 vj$6 VirtualLab Fusion技术 N9|.D.#MF odn`%ok
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