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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 []jbzVwS2 oFb~|>d
JU#m?4g .?`8B9w 建模任务 K&VMhMVb =w!2R QB x1h&`QUP 仿真干涉条纹 l(9AwVoAR| sd9b9?qiu "l{{H&d 走进VirtualLab Fusion p9 G{Q Jot7
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