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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性,仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此,它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中,氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 6 8Vxy TW1#'G_# pK0@H "$8 7~L_>7; 建模任务 C879eeJ -<(RYMk*) [|(=15; 仿真干涉条纹 #E_<}o C8}
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V7 −基本光源模型[教程视频] U+!&~C^y •使用导入的数据自定义表面轮廓 Hv%$6,/ *v •定义元件的位置和方向 XaMsIyhI − LPD II:位置和方向[教程视频] +R;s<pZ^ •正确设置通道以进行非序列追迹 ;ssI8\LG −非序列追迹的通道设置[用例] <@Y`RqV + •使用参数运行检查影响/变化 a`LkP% −参数运行文档的使用[用例] QI78/gT,d o3h>)4 7&w| #WAX&<m VirtualLab Fusion技术 g~76c.u- z8xBq%97us
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