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我国科研团队在等离激元-激子强耦合体系的光致发光谱研究中获进展 目前，对表面等离激元与激子强耦合体系的实验研究主要是利用散射、反射和透射光谱，强耦合会导致这些光谱的劈裂，反映出各个极化激元态的形成。然而，在光致发光谱（荧光谱）中，主要观测到光谱的展宽或低能量的极化激元态。这些强耦合体系的荧光谱线特征的起源尚不清楚。相比于散射等光学过程，荧光过程更加复杂。在耦合体系中，部分荧光通过表面等离激元的散射发出。此外，探测到的荧光信号中通常也包含未与表面等离激元耦合的激子的荧光。由于荧光发射过程和信号组成的复杂性，从荧光谱中提取出强耦合信息更加困难。 中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心研究员魏红课题组与武汉大学教授徐红星课题组合作，针对上述问题开展研究。科研团队设计了银纳米线与单层WSe2的耦合体系，由于银纳米线支持传输的表面等离激元，使区分不同来源的荧光信号成为可能，为分析表面等离激元与激子耦合的基本物理过程及强耦合的光谱特性提供了一个理想体系。耦合体系的散射光谱中出现由一个或两个表面等离激元模式与激子耦合引起的拉比劈裂（图1），拉比劈裂大小超过表面等离激元与激子的平均损耗，表明强耦合的发生。研究利用纳米线表面等离激元的传输提取出通过表面等离激元发射的荧光，表明荧光谱和散射谱具有相同的线型特征，荧光谱上也表现出由表面等离激元-激子强耦合产生的两个极化激元态（图2）。研究利用耦合振子模型并结合单层WSe2的荧光谱，计算得到耦合体系的荧光谱，对计算数据分析的结果与实验结果一致（图3）。该研究揭示了表面等离激元-激子强耦合体系中荧光发射过程与表面等离激元散射过程的关系，理清了荧光的光谱特征形成的原因，为剖析表面等离激元-激子耦合体系丰富的光谱现象提供了新方法和新思路。  图1.（a）银纳米线-单层WSe2耦合体系的示意图和光学显微镜图像，（b）玻璃基底上单层WSe2的透射谱和荧光谱，（c）玻璃基底上（I、III）和单层WSe2上（II、IV）的银纳米线的散射谱  图2.银纳米线-单层WSe2耦合体系的荧光谱（a、d），归一化的荧光谱（b、e）及对应的散射谱（c、f）  图3.（a）实验荧光谱（实心点）及计算荧光谱（空心点）拟合峰的能量随低能量等离激元模式的能量E1的变化关系，（b）实验荧光谱中低能量极化激元峰与激子峰的强度比值随E1的变化关系 相关研究成果以Unified Scattering and Photoluminescence Spectra for Strong Plasmon-Exciton Coupling为题，发表在Physical Review Letters上。研究工作得到国家自然科学基金和中科院的支持。 论文链接：https://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.128.167402 关键词： 光谱
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