[技术]Essential Macleod中的吸收工具 [复制链接]

一个膜系的吸收率是一个可以计算的参数，它能与反射率和透射率一起作为二维和三维图的可选参数列出。此外，还有两个工具可以处理吸收率，它们隐藏在设计分析部分，即Absorptance Rate和Total Absorptance。这两个工具到底是做什么的？ <c)+Fno[E_  
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吸收率是一种测量膜层损失能量的方法。严格地说，它应该是转化成热量的东西，但通常只把它作为反射光和透射光中所缺少的东西的一种度量。因为与真正的吸收相比，大多数其他的损耗通常都很小，而且由于它们和吸收一样，与电场振幅的平方成正比，所以任何差别都很小。不管怎样，大多数工程师都喜欢对总损失进行衡量。对于Essential Macleod而言，薄膜材料的消光系数就是与吸收相关的参数。它所代表的损失取决于它的测量方法。因此我们写了一个光学薄膜 tniDF>Rb  
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1=R+T+A (1) B;R.#^@/  
如果结果以百分比表示，则左侧变为100。这就是设计吸收率的计算方法。 "]oO{'1X  
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现在让我们考虑一层厚度为dt的薄层埋在膜层内。每单位面积薄层中的功率损失将是净入射辐照度（Ienter）和净出射辐照度（Iexit）之间的差值。这可以通过各种方式进行操作。 t<T[h2Wd  
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将入射到整个涂层上的辐射强度设为Iincidence，薄片的吸收率为dA，势吸收率为da。则 "jTKSgv+q5  
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(2) K`/`|1  
(3) 'eo KZX+  
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然后，膜层中的总吸收率简单地是（2）在膜厚度上的积分。 VR+<v  
K=C!b?  
图1显示了使用具有无吸收低折射率材料（SiO2）和轻微吸收的高折射率材料（TiO2）薄膜的窄带滤光片的一些结果。电场分布的平方很好地解释了吸收率变化。势吸收率几乎相同，因为反射率为零，但膜层前面部分的吸收降低了分母上的Ienter的值，因此膜层后部的吸收率逐渐增加。 : p{+G  
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图1具有吸收高折射率材料和无吸收低折射率材料的窄带滤光片的计算。由于反射率为零，吸收率和势吸收率几乎相同。