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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-12-27
    任务/系统说明 %2)'dtPD~  
    ,#P eK(  
    Ph*tZrd*#  
    HXTZ`'Rv  
    亮点 7#BpGQJQ  
    0oFRcU  
    \Q+<G-Kb.  
    R8 lBh Ls  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Wl:vO^  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 :3# t;  
    OJL?[<I  
    具体要求:光源 Gdd lB2L)x  
    "3"9sIZ(  
    (&U8NeWZ  
    \*0ow`|K  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 BEkxH.   
    =sk]/64h``  
    $DOBC@xxzT  
    0b0.xz\~U  
    5!T\L~tyt  
    )h0F'MzW  
    )kSE5|:pi  
    ]$'w8<D>t,  
    具体要求:分束器 A7!=`yA$  
    n)(E 0h  
    A3C#w J  
    ZS@Cd9*  
    具体要求:参考光路反射镜 OE(Z)|LF  
    MH+t`/E0]  
    # 4AyA$t  
    Xx~XW ^lsh  
    fCL5Et  
    p xrd D7  
    具体要求:测试光路反射镜 UGNFWZ c  
    ]:m}nJ_  
    fT-yY`  
    LB|FVNW/S  
    具体要求:探测器 X#$mBRK7  
    %G& Zm$u=  
    $:R"IqDG  
    dHnR)[?e  
    结果:3D光线追迹 gOpGwpYZ,  
    OQ>r;)/  
    jOppru5U  
    Jb'M/iG  
    结果:场追迹 F^Yt\V~T  
    1k2+eI  
    f>Mg.9gJ(  
    g|r:+%,M  
    结果:移动样品的场追迹结果 Zb)j2Xgl  
    5gV%jQgkC  
    ZW$PJmz  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 Y4Hi<JWo  
     
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