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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 e-D4'lu w.kCBDL 关于此用例 2f:Mm'XdB • 需要以下工具箱 )wf\F6jN - 基本工具箱 :7;[`bm(G • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) <d$A)S};W • 在此处获得免费试用版 P0\eBS 此用例展示了… DacJ,in_I{ • 如何构建GRIN透镜 xNdID j@ • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 xDrV5bg u39FN?<^ %]Cjhs"v GRIN透镜的构建 K%,$ V,# [wcA.g* F ~LE[,
I:q Z6=~1'<X GRIN透镜:GRIN介质 lg/sMF>z\f Rlc$;Z9K K=kH%ZK
Ge}$rLu]0 .1ddv4Hk 系统设置:探测器和连接 s'2Rs^,hN · 探测器说明: UxPGv;F − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 r#~K[qb 8&a_A:h I($,9|9F }V^e7d 仿真结果:光线追迹分析 /(%Ig,<"JC $Qq_qTJu?G /| GH0L 仿真结果:场追迹分析 ul}'{|4 o8D{dS>,PL
#Go(tS~o 系统设置:寻找像面 B82,.? vo b$iS`>=
7s]Wq6 H'Iq~Ft1 仿真结果:光线分析和场追迹分析 $HRed|*.C +2O=s<fp  U?6yke
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