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摘要 O%>FKU>(? ~> xVhd 干涉测量法是光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高精度的机械和热变形。 作为一个典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列场追迹,构建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。 7%%FYHMO: UC u4S > B!;qz[]I 6v]y\+ 建模任务 JfrPK/Vn YFGQPg 9b8kRz[ c |%i|P)] 元件倾斜引起的干涉条纹 cNd;qO0$
K F:W:8 U&(TqRi, pejG%pJ 元件移动引起的干涉条纹 .5t|FJ]`$ "1-|ahW ';CL;A ; kOQq+_Y
走进VirtulLab Fusion 7[b]%i b{Qg$ZJeR _:0)uR LS _w'N VirtualLab Fusion工作流程 W=$cQ(x4Z )=PmHUd −基本源模型[教程视频] " iKX-VIl
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N.<S[ Xyf7sHQ W,g0n=2V VirtualLab Fusion技术 W{{{c2 . ]xYm@%>6 s--\<v q3~RK[OCq 文件信息 <21@jdu3n, uPp9
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