左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
x HhN 系统简介 9 ^p;UA
}I2@ %tt? ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 )6J9J+%bi ?28N ^ 特征及技术参数 %&Q$dzgb_
81i655!Z - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， McQe1 - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） HZf/CE9T - 入射光与探测器可共面或异面。 CtS l - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 `6xkf&Kt - 可对样品进行扫描。 os]8BScx - 动态范围： 13个数量级。 V:c;-)( - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 E L9]QI - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 SK# (#OQoh - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 *=*AAF - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 7 !JQB - 方便操作的测量及分析软件。 `p ;I} - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 m-*hygkcDu wGP;Vbk 应用 XnWr5-;
z=3\Ab 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 x"
L20} - 产品质量检测。 [+DW >Et - 光学性能分析。 +lM X{es\O - 粗糙度分析。 G8Y<1%`< {R? U.eJW
ftF@Wq1f QQ：2987619807 +P`*kj-P\
