左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
DdG*eKC 系统简介 aDreN*n
Ac@ zTK6> ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 `;OEdeAM &9*MO 特征及技术参数 ^ 1 P@BRh
^HM9'*&KJ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， $sTvXf:g - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） faJ>,^V# - 入射光与探测器可共面或异面。 #ivN-WKCl - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 }s 7ibm' - 可对样品进行扫描。 &\_cU?0d - 动态范围： 13个数量级。 .!&S{;Vv?W - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 [61T$ . - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 !KEnr`O2u - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 1hT!~' - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 o3oAk10
- 方便操作的测量及分析软件。 )&$Zt( - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 >[U.P)7; f/VrenZ_ 应用 !83N.
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)7j CEA03 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 )^ky @V - 产品质量检测。 o@d+<6Um - 光学性能分析。 b [MdA|C%j - 粗糙度分析。 W97%12J3 -5Km 9X8
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