左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
B'(zhjV 系统简介 ^JMG'@x
K/N{F\ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 ~D|,$E tX4 ]jVE 特征及技术参数 wn.6 l
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L YB @L06a - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， %(khE-SW - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） )LKJfoo
PY - 入射光与探测器可共面或异面。 2 G*u v+= - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 d
([~o - 可对样品进行扫描。 0El EaH1z - 动态范围： 13个数量级。 }cCIYt \RK - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 uyk;]EYjHZ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 N1c 0>{ - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 +3-5\t` - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 H9ES|ZJ s - 方便操作的测量及分析软件。 =0 EKrG - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 [[<TW} e_|<tYx >< 应用 rYdNn0mh k
fUWrR1 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 8M,o)oH - 产品质量检测。 WLj]EsA. - 光学性能分析。 Fs4shrt - 粗糙度分析。 M_%KhK d@{1 2 hq
WUz69o be QQ：2987619807 rL"]m_FK
