左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
J/j?;qx]j 系统简介 \V|\u= @H
.]qj];m ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 TvE M{ O/9 dPod 特征及技术参数 6BihZ|H04
; J~NfL - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， T <|B1jA - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） 2z7+@!w/ - 入射光与探测器可共面或异面。 cp0@wC#d - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 ey@]B5 - 可对样品进行扫描。 C|"h] - 动态范围： 13个数量级。 d7y`AS@q6 - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 ^G+1nY4? J - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 %&+j(?9 - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 M ]dS>W%U - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 eU"!X9 - 方便操作的测量及分析软件。 krPwFp2[* - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 -v4kW0G FY [WdZDZ 应用 GNzk Vy:u
Ji_3*( 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 Jp EE'#r| - 产品质量检测。 Vf#X[$pc/ - 光学性能分析。 nk,X6o9% - 粗糙度分析。 ]A:n]mL bb# F2r4
8,p nm QQ：2987619807 ty|E[Ez1
