左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
:mdoGb$ dr 系统简介 Wl,I %<&j}
{#+'T 13sx ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 "?J f# PJh97%7 特征及技术参数 $K 1)2WG
?Xp+5{ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， >k 2^A - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） (Q|Y*yI - 入射光与探测器可共面或异面。 s%N6^}N - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 pTYV @5| - 可对样品进行扫描。 ;s-fYS6(>{ - 动态范围： 13个数量级。 A& Q!W)= - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 S.owVMQ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 r+MqjdXG - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 ZgzYXh2 - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 }sfv zw_ - 方便操作的测量及分析软件。 gf,[G bZ - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 EmV ZqW 6 c -9[-Px 应用 ? z K>[L
V##T G0 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 J]&nZud` - 产品质量检测。 4 ..V - 光学性能分析。 \ &s$?r - 粗糙度分析。 S`[r]msw \j vS`+
wq#'o9s, QQ：2987619807 ;BEX|w xn
