左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
FW G6uKv 系统简介 !u[eaLxV
(jRm[7H ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 `n @*{J8 |8l<$ J 特征及技术参数 'O_3)x5
R?"q]af~ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， ol dA#sA$ - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） D"2&P ^- - 入射光与探测器可共面或异面。 zkuU5O - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 87
$dBb{ - 可对样品进行扫描。 %u5L!W& - 动态范围： 13个数量级。 Z8@J`0x - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 yy i#Mo
, - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 (mTE;s ( - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 QLvHQtzwX - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 "8x8UgG - 方便操作的测量及分析软件。 W_\5nF - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 ZQ%'`q\c :*Z4yx 应用 {E9+WFz5
:~tAUy":_* 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析
H Y&DmE - 产品质量检测。 g"p%C:NN - 光学性能分析。 p93r'&Q - 粗糙度分析。 #*K}IBz 8QLj["
Cz\e w B QQ：2987619807 mGJKvJF
