左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
snH9@!cG8 系统简介 gf&\)"
5Nt40)E}sN ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 si!jB%^ f3p)Q<H>`( 特征及技术参数 1 luRTI8^
y|+n77[Gv - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， (oUh:w.]Gw - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） [yEH!7 - 入射光与探测器可共面或异面。 R9!GDKts% - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 JM& :dzyIP - 可对样品进行扫描。 ]y ** ZFA - 动态范围： 13个数量级。 Yu`KHvur - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 8iIz!l%O - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 4e0 /Q!o, - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 b M rR - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 ag7(nn0! - 方便操作的测量及分析软件。 vhEXtjL - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 hd'JXKMy gQ0W>\xz 应用 x+%(z8wD
CZ~%qPwD w 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 [%1 87dz:D - 产品质量检测。 `yvH0B - - 光学性能分析。 dB= aq34l - 粗糙度分析。 s4&JBm(33N kgQyG[u
U7(t >/ QQ：2987619807 m0 a <~
