左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
_T805<aUW\ 系统简介 G~_D'o<r
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G ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 bl10kI:F
Bw+ ?MdS 特征及技术参数 -V" W
jWvi% I qi - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， 9`^(M^ |c - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） k3Puq1H - 入射光与探测器可共面或异面。 +RiI5.$=Z - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 f4f)9n - 可对样品进行扫描。 ru1^. (W2 - 动态范围： 13个数量级。 u35"oLV6}# - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 [yc7F0Aw - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 v< (+ l)Ln - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 nq+6ipx - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 oe<@mz/ - 方便操作的测量及分析软件。 BT$Oh4y4 - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 zyP/'X_~: *L Y6hph" 应用 ~o K0k_{~
+nB0O/m'U 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 Ty7 `& - 产品质量检测。 s bR*[2 - 光学性能分析。 # 3RElI - 粗糙度分析。 udc9KuR@ ) 7#3n(_np
V_n tS& 2o QQ：2987619807 cT&lkS
