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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 f?@M"p@T  
    e)L!4Y44K  
    任务/系统说明 d%!yFix;<  
    bDegIW/'w  
    I'<sJs*p  
    xKT;1(Mk  
    亮点 O=u.J8S2  
    )%: W;H  
    $ M|vIw{#  
    #m'+1 s L  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) )1)&fN41i#  
     严格分析光栅衍射效率 LG?b]'#  
     考虑入射光的方向分布 eI -FJ/CJ  
    {PL,3EBG  
    说明:光源 h}+Gz={Q^  
    Wx8 cK=  
    Ax4;[K\Q  
    tU8aPiUl  
    说明:光束分束器 X(]J\?n'  
    E_xk8X~  
    xf qu=z8X  
    s21)*d  
    说明:检测透镜系统 %nkbQ2^  
    Hxj8cX UF|  
    DVBsRV)/  
    s6oIj$  
    说明:微型晶片 hSk  
    r6+IJxUd  
    k{\a_e`  
    Mi[,-8Sk  
    说明:检测物镜 y8|}bd<Sr  
    I=8MLv  
     8KzH -  
    =?hbi]  
    说明:探测器 p"n3JV.~k+  
    A+hT2Ew@t}  
    )U2%kmt  
    W6yz/{Rf  
    结果:3D光线追迹(只有0级) :XO7#P  
    a S+i`A:a  
     Z Mf,3  
    NB&zBJ#  
    结果:3D光线追迹(所有级) T(*A0  
    #XAH`L\  
    .zdmUS :  
    mgBxcmv  
    结果:光线追迹 x=44ITe1n[  
    .@Jos^rxgJ  
    `6G:<wX  
    0h"uJco,  
    结果:场追迹 ,Q8h#0z r  
    ;;zd/n2b  
    Lor__ K  
    /oU$TaB>(  
    结果:线性偏振光的场追迹 A) TO<dl  
    mp0! S  
    h56s~(?O  
    X^. ~f+d~  
    文档和技术信息 '\LU 8VC  
    &. "ltB  
    1++Fs  
    qo}u(p Oj|  
    z%/<|`  7  
    QQ:2987619807 + hMF\@  
     
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