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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 *V^ #ga#A  
    ;^u*hZN[Up  
    任务/系统说明 "@3@/I  
    ITJ q  
    _,AzJ^  
    'm=*u SJK  
    亮点 W_M'.1 t  
    u0)7i.!M  
    [dX`K`k  
    *4Fr&^M\  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) mABe'"8  
     严格分析光栅衍射效率  l]!9$  
     考虑入射光的方向分布 EpPf _ \o  
    -<_$m6x"A  
    说明:光源 's x\P[a  
    zdun,`6  
    @ez Tbc3  
    y %8op:'  
    说明:光束分束器 ,{eU P0]  
    .0HZNWRtb  
    h~Q)Uy5N(D  
    QrG`&QN  
    说明:检测透镜系统 q> :$c0JY  
    Q/>L_S  
    I8Vb-YeS  
    #_  C  
    说明:微型晶片 NF$\^WvYSP  
    O%!5<8Xrb  
    B#%; Qc  
    ~`#-d ^s:  
    说明:检测物镜 KGHq rc  
    l7[7_iB&E  
    JOn yrks  
    rEZ8eeB[3  
    说明:探测器 C&\5'[*  
    %WFu<^jm  
    #!J(4tXny  
    'rP]Nw  
    结果:3D光线追迹(只有0级) ;(6g\'m  
    {Z;t ^:s#  
    #1-xw~_  
    5 x2Ay=s  
    结果:3D光线追迹(所有级) ?wpB`  
    &:*q_$]Oz  
    3*S{;p  
    _1Z=q.sC  
    结果:光线追迹 ]LPQYL  
    v0*N)eqDGd  
    #S g\q8(O  
    v`q\6i[-  
    结果:场追迹 RH;:9_*F  
    0pe3L   
    0Sl]!PZR1  
    1[nG}  
    结果:线性偏振光的场追迹 D]! aT+  
    >ndJNinV  
    OvL\u{(<F  
    Q'B6^%:<~  
    文档和技术信息 5m$2Ku  
    >"X\>M`"  
    c/W=$3  
    |Yi)"-  
    ]ekk }0  
    QQ:2987619807 e59dVFug.U  
     
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