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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 R_DQtLI  
    1h{_v!X  
    任务/系统说明 !\v3bOi&  
    C.p*mO&N  
    :7*\|2zA  
    M!@[lJ  
    亮点 uS.a9 Q(  
    rMloj8O*  
    l).Ijl}AH;  
    %&GQ]pmcY  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) xSZw,  
     严格分析光栅衍射效率 <h0ptCB  
     考虑入射光的方向分布 6h8NrjX  
    #}?$mxME*  
    说明:光源 tJ3s#q6  
    qpCi61lTDJ  
    6Wp:W1E{`  
    B9\o:eY  
    说明:光束分束器 {'[1I_3  
    #xB%v  
    #{sb>^BF  
    hw2Hn   
    说明:检测透镜系统 S?$T=[yY)  
    af{K4:I  
    PX'%)5:q;i  
    beoMLHp  
    说明:微型晶片 ) 'KHUa9  
    nK$m:=  
    G<DUy^$i  
    hG]20n2  
    说明:检测物镜 p6*D^-  
    qB`P7!VN^]  
    |n/id(R+  
    #'oKkrl  
    说明:探测器 ^&%?Q_]  
    @hv] [(<  
    q\<vCKI-^  
    7[\B{N9&W  
    结果:3D光线追迹(只有0级) *V}}3Degh  
    s+11) ~  
     $?YkgK  
    ^C{a'  
    结果:3D光线追迹(所有级) wv$=0zF  
    M?o`tWLhF  
    LWE !+(n  
    -XBNtM_ "  
    结果:光线追迹 VTdZ&%@  
    a@. /e @p  
    V !$m{)Y  
    $- L)>"  
    结果:场追迹 K!X8KPo  
    KpL82  
    \l~h#1|%;s  
    &nYmVwi?"Q  
    结果:线性偏振光的场追迹 V SxLBwXf  
    +}n]A^&I\E  
    =}[V69a  
    <tNx*ce5  
    文档和技术信息 mAMKCxz,  
    lF<(yF5  
    %rsW:nl  
    Z.<B>MD8^  
    k&2I(2S  
    QQ:2987619807 nC w1H kW  
     
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