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    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    光币
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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-03-15
    摘要 Si*Pi  
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    7x-k-F3  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 D}cq_|mmn[  
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    建模任务 `W?aq]4x5  
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    由于组件倾斜引起的干涉条纹 Qh/yPOSm:  
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    p5)A"p8"9,  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 3'u%[bx E  
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    文件信息 pVt-7 AgW  
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    更多阅读 m++VW0Y>  
    - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration mN3%;$ND7  
    - Fizeau Interferometer for Optical Testing     \RMYaI^+;  
    kt X(\Hf!  
     ./5|i*ow  
    QQ：2987619807 LL9Mty,  
     
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