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高数值孔径(NA)物镜的聚焦分析
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高数值孔径(NA)物镜的聚焦分析
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发表于: 2021-03-04
1. 摘要
npW1Z3n
xg>AW Q
高NA物镜广泛用于光刻,显微等技术。因此,聚焦
仿真
中考虑光的矢量性质至关重要。VirtualLab可以非常便捷地对此类
镜头
进行
光线
追迹和场追迹分析。通过场追迹,可以清楚地观察由于矢量效应引起的聚焦
光斑
失对称现象。利用
相机
探测器
和电磁场探测器能够对聚焦区域进行灵活全面的研究,进而加深对矢量效应的理解。
iQI$Y]Y7
hR] AUH
i7m=V T
mOUIGlv
2. 建模任务
#n[1%8l,
>^ E
gmY*}d` 'f
\3ZQ:E}5
3. 概述
ARZ5r48)
<KFE.\*Z4
'|\et aD
示例
系统
包含了高数值
孔径
物镜
RRNoX}
下一步,我们将阐述如何遵循VirtualLab中推荐的工作流程执行示例系统的仿真。
DM-8azq $
:LuzKCvBP
tkG0xRH
f4s^$Q{Q
4. 光线追迹仿真
f|*vWHSM
Y{ho[%
(X rrnoz
首先,选择“Ray Tracing System Analyzer”作为仿真引擎。
6!,Am^uXM
点击“Go!”。
z_dorDF8`>
随即获得3D光线追迹结果
lD8&*5tDmP
:.-z) C}
<&?gpRK
r3@Q(Rb
然后,选择“Ray Tracing”作为仿真引擎。
fwojFS.K
点击“Go!”。
Sd3KY9,
随即获得点列图(2D光线追迹结果)。
_u`NIpXSP
~=Y<B/
uhuwQS=X
5. 场追迹仿真
m[7i<'+S
<"uT=]wZ=
K)Nbl^6x
转换到场追迹,并选择“Field Tracing 2nd Generation”作为仿真引擎。
w$9aTL7
点击“Go!”。
fb5]eec
JD^&d~n_
}57wE$9K
o0~+%&
6. 场追迹结果(相机探测器)
g8yWFqE!T
f:k3j}&
1n! JfsU
上图所示为仅通过叠加Ex和Ey场分量得到的强度分布。
qy`95^
下图所示为通过叠加Ex,Ey和Ez分量得到的强度分布:由于在高NA条件下相对较大Ez分量,导致聚焦光斑明显的失对称性。
*v'&i) J
eH2.,wY1
D<[4}og&]
7. 场追迹结果(电磁场探测器)
krTH<- P
利用电磁场探测器,我们可以获得多有电磁场分量的结果
6&=xu|M<x=
jg?B][
Ox"4 y
9n!<M)E
8.
文件
信息
Bv$;yR
YMG{xGPtM
tvptawA.
w\pD'1e
ZD1UMB0$4
QQ:2987619807
`LL#Ai a
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发表于: 2021-04-22
您好,请问为什么在Ey方向会有分量。我模拟了一下,发现Ey没有。
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