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1. 摘要 .jMm-vox} Ku LZg VirtualLab可以通过对光学系统仅一次建模而使用不同的追迹技术对其进行分析。这包括光线追踪以与场追踪。 通过VirtualLab的非序列扩展,可以轻松地在序列和非序列之间对光学系统进行分析。本例演示了如何对您的系统执行非顺序分析。 作为范例,我们将使用一个平板,其第二个表面微倾。 #1Mk9sxo OXDlwbwL qx
3.oU 2. 建模任务 :b>Z|7g ? ($(6]?J(?7 tYIHsm\b 在这个用例中,我们将说明用户如何轻松切换序列和非序列系统分析。 ~l!(I-'?g 为了演示目的,我们使用平面波来照射平板。 $gDp-7 我们对平板反射的光线感兴趣。 L1BpkB 组件由两个平面接口组成,其中第二个面倾斜0.1° |Ix6D R+]p
-NI^ ->wY|7 0 w\X 3. 示例系统 3iYz<M [2w3c4K 通过系统配置文件指定系统参数。 9BI5qHEp ^FgNg'"[3
hM\QqZFyp ;0E"4(S.q1 4. 非序列追迹的选择 /iif@5lw{ p@i U}SUaE VR?7{3 在光学系统属性窗口中,你可以选择执行序列追迹或者非序列追迹。 UEo,:zeN[ 该属性选项会作用在以下引擎: {N5g52MN - 光线追迹 *B}vYX - 光线追迹系统分析器 'G(N,vu[@ - 第二代场追迹 :&yRvu 1ISA^< M }#!o^B8 CW\o>yh 5. 序列光线追迹结果 &Wd,l$P<O PkDL\Nqe u-UUF 通过执行光线追迹系统分析器,可以显示一个3D光线分布。 ?d+B]VYw 在序列光线追踪的情况下,只评估第一个表面的反射光。 4NR,"l) rShi"Yw ?]fBds= -Qnnzp$] 6. 序列场追迹结果
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