切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 2933阅读
    • 7回复

    [讨论]用TracePro进行分析杂散光 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线艾泽
     
    发帖
    36
    光币
    26
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-09-14
    关键词: 杂散光Tracepro
    在利用TracePro进行分析杂散光的时候,需要先用solidworks进行光学系统的建模,在建模的时候,光学零件和支撑结构之间是存在隔热圈或者压圈之类的,但这是在装配等工作需要使用的,进行杂散光分析的时候,还需要建模压圈或隔热圈吗,仅仅建模透镜和支撑结构可以进行杂散光分析吗?
     
    分享到
    发帖
    57
    光币
    0
    光券
    0
    只看该作者 1楼 发表于: 2021-03-22
    马一下学习
    离线yolanda94
    发帖
    36
    光币
    481
    光券
    0
    只看该作者 2楼 发表于: 2021-04-07
    楼主后来是怎么进行杂散光分析的,我现在也遇到了一样的问题
    离线打怪
    发帖
    63
    光币
    1
    光券
    0
    只看该作者 3楼 发表于: 2022-01-21
    解决了嘛
    离线yhx0620
    发帖
    108
    光币
    7
    光券
    0
    只看该作者 4楼 发表于: 2022-08-18
    同样的问题
    离线艾泽
    发帖
    36
    光币
    26
    光券
    0
    只看该作者 5楼 发表于: 2022-09-19
    最终建模的时候考虑的是,可能会与成像光线在不同表面反射后的杂散光线有接触的表面都要进行建模。
    离线aaronnealson
    发帖
    38
    光币
    9
    光券
    0
    只看该作者 6楼 发表于: 2023-05-26
    有结果了吗
    离线xinyaoli
    发帖
    9
    光币
    6
    光券
    0
    只看该作者 7楼 发表于: 2023-06-08
    要建模,或者导入进来。模型尽可能与实物接近,分析结果才有说服力。杂光分析对模型的要求比较严格,机械工程师建立的机械模型机械能用,光学工程师建立的光学模型光学能用,集成出来的光机模型,常常存在交叠,杂光分析不能直接用,要进行干涉检验和处理