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摘要 HkrNt/] D3]_AS&\ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 ,-):&V:jF WDcjj1`l
建模任务 fIu/*PFPVY K$4Ky&89
|K]tJi4fz 元件倾斜引起的干涉条纹 .m
.v$( .L}ar7 C`fQ` RL\ 元件移位引起的干涉条纹 ujaaO6oZ7 BwR)--75 (uSfr]89' 文件信息 0VPa=AW N)QW$iw9 >6c{CYuT
QQ:2987619807
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