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摘要 ?xo<Fv P}D5 j 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 nY?X@avo> ,.,Y{CP 建模任务 wKy4Ic+RV ^ANz=`N5, 'V*8'? 元件倾斜引起的干涉条纹 ^I!gteU; fXAD~7T*s *G,r:Bnb 元件移位引起的干涉条纹 Cta!"=\ PML84*K - l4q7,%G 文件信息 Oz.Zxw g)iw.M2 6X$iTJ[\x
QQ:2987619807
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