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摘要 9:e YU
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2'5 ]~ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 A?`jnRo=\ }J7zTj~{ 建模任务 TEMw8@b Q4*fc^?u SF5@Vg 元件倾斜引起的干涉条纹 T}4/0yR2 c wOJy> :"l-KQ0 元件移位引起的干涉条纹 Le*.*\ c7M%xGrP >-O/U5<! 文件信息 !vk|<P1 r" K':O6y XXh6^@H=
QQ:2987619807
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