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摘要 [~x
Ql daaurT 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 pZXva9bE ibEQ5 2 建模任务 d<xBI,g w!h!%r !}U&%2<69 元件倾斜引起的干涉条纹 A!SHt7ysJ 3HWI; rNdap*. 元件移位引起的干涉条纹 nNf/$h#;O V0"UFy?i mim]nRd2v 文件信息 `*N2x\+X !x[+rf 9^XT,2Wwf
QQ:2987619807
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