-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2024-12-26
- 在线时间1616小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 . o-0aBG AC9{*K[ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 AkxH [GtcaX{Zz 建模任务 l%^h2
o 8!Wfd)4=,F Iv'RLM 元件倾斜引起的干涉条纹 pBlRd{#fL L_tjcfVo ,]0S4h67 元件移位引起的干涉条纹 4a\n4KO X U8 Z~Y}29 ^dFhg_GhF 文件信息 "V: x7vq?fP0n Lf5%M|o.)
QQ:2987619807
|