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摘要 txnH~;( ph(LsPT- 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 x%@M*4:& e'G3\h}# 建模任务 #2Q%sE? B$s6|~ 7g{JE^u 元件倾斜引起的干涉条纹 }2BNy9q@ @(x]+*) O3slYd&V 元件移位引起的干涉条纹 zn= pm#L FO!0TyQ 6OC4?#96%' 文件信息 ]!P6Z? 5M)B lc
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