-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-01-24
- 在线时间1672小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 2ef;NC.&n f^Bc 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 LJzH"K[Gg6 adEJk 建模任务 2(YPz|~W vR7HF*8 HRa@ 元件倾斜引起的干涉条纹 ]rBM5~ d.<~&.-$ >um!Eo 元件移位引起的干涉条纹 D$eB ,~
/'DwfX XAOak$(j 文件信息 t` ^Vb-
dWRrG-' 5"Kx9n|
QQ:2987619807
|