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摘要 dQoZhE y8Q96zi 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 }PZz(Ms 5yvaY
"B 建模任务 BrW1:2w
>\ ~s}0z&v^te _xg4;W6M= 元件倾斜引起的干涉条纹 i\P?Y(-{ hjuzVOE|W s m42 元件移位引起的干涉条纹 XA
cpLj] L{v^: +%Vbz7+! 文件信息 /UJ@e <OKzb3e ;5wmQFr
QQ:2987619807
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