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楼主
发表于: 2020-07-17
摘要
Q:&,8h[
I&l 1b>
高数值孔径
物镜
广泛用于
光学
光刻、
显微镜
等。因此,在聚焦
模拟
中考虑光的矢量性质是非常重要的。 VirtualLab非常容易支持这种
镜头
的
光线
和光场追迹分析。 通过光场追迹,可以清楚地展示不对称焦斑,这源于矢量效应。 照
相机
探测器
和电磁场探测器为聚焦区域的研究提供了充分的灵活性,并且可以深入了解矢量效应。
[]/=!?5B
R/R[r> 1)6
yw^t6E
%Qgo0
建模任务
4-^|e
k!H;(B"s-
_6Wz1.]n
VQ5T$,&
入射平面波
-|B?pR
波长
2.08 nm
!/znovoD
光斑直径: 3mm
2hdi)C,7Y
沿x方向线偏振
h@=H7oV7k
zDeh#
如何进行整个
系统
的光线追迹分析?
rpu9
如何计算包含矢量效应的焦点的强度分布?
1fM=>Z
W -<E p<7{
概览
$%ZEP>]
•样品系统预设为包含高数值孔径物镜。
rQg7r>%Q
•接下来,我们将演示如何按照VirtualLab中推荐的工作流程对样本系统进行模拟。
yS p]+
an={h,
]IMBRZQqb
光线追迹模拟
I1^0RB{~
•首先选择“光线追迹系统分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作为模拟引擎。
u4bPj2N8I
•点击Go!
7GY[l3arxv
•获得3D光线追迹结果。
zk=5uKcPE
nF0$
=;!C7VS
(`x6QiG!
光线追迹模拟
CT+pkNC
•然后,选择“光线追迹”(Ray Tracing)作为模拟引擎。
|B<+Y<)f^
•单击Go!
G 5w:
•结果,获得点图(2D光线追迹结果)。
\g< M\3f
lfG]^id'
'<5Gf1 @|
*2N$l>ql:k
光场追迹模拟
EzqYHY+_r
•切换到“第二代场追迹”(Field Tracing 2nd Generation)作为模拟引擎。
yz8ZY,9
•单击Go!
Rd|};-
W=41jw
(.4mX t
+Rn]6}5m\
光场追迹结果(照相机探测器)
; S7 %
fQRGz\r*k
•上图仅显示Ex和Ey场分量的强度。
^d Fdw\
•下图通过整合Ex、Ey和Ez分量显示强度:由于高数值孔径情况下相对较大的Ez分量,可以看到明显的不对称性。
!:t}8
tNg}:a|J
Zc(uK{3W-
Q4\EI=4P]
光场追迹结果(电磁场探测器)
j:B?0~=
Tu95qL~^
•通过使用电磁场探测器获得所有电磁场分量。
Sx?IpcPSm
ax0RtqtR&
$Q*h+)g<
e}Cp;c]=
H(9%SP@[c
}/q]:3M|
{ \9vW; '
+LeZjA[
[t/7hx"2t
ts/rV#s~
文件信息
'bVDm m).
"_t2R &A
8gWifx #N
@T[}]e
BC0SSR@e
QQ:2987619807
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