现代光学薄膜技术 本书目录 mH,L,3R;R
第一篇 光学多层膜设计 6/=0RTd
第1章 光学薄膜特性的理论计算 l2*o@&.
1.1 单色平面电磁波 TSEv^u)3
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 8{f~tPY
1.3 光学薄膜特性的理论计算 %S$+3q%F
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 GL^84[f-T
习题 h6(\ tRd!\
第2章 光学薄膜的设计理论 *De}3-e1b
2.1 矢量作图法 99YgQ Y]HO
2.2 有效界面法 tYk!Y/O}
2.3 对称膜系的等效层 }HKt{k&$
2.4 导纳图解技术 QEQ/
习题 a`*Dq"9pV
第3章 光学薄膜系统的设计 >3qfo2K0
3.1 减反射膜 9{cpxJ
3.2 分束镜 )7jJ3G*
3.3 高反射膜 {S$61ut
3.4 干涉截止滤光片 ?glK~G!i
3.5 带通滤光片 WcOnv'l,
3.6 特殊膜系 U ID0|+%Y
习题 NE)Yd7m-
参考文献 uz
/Wbc>y
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ^B!cL~S*I
第4章 薄膜制备技术 8:sQB%BB
4.1 真空淀积工艺 $l=&
4.2 光学薄膜材料 6.'j\
4.3 薄膜厚度监控艺术 %nV6#pr
4.4 膜层厚度的均匀性 Q`m9I
习题 ?e#bq]
参考文献 }`uFLBG3
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 V=de3k&p
5.1 薄膜的形成过程 w\zNn4B})A
5.2 薄膜的微观结构 m|]:oT`M
5.3 薄膜的成分 <5]ufv
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 yBl9 a-2A
5.5 薄膜微观结构和改善 %5ovW<E:
习题 v
vzP t.ag
参考文献 !I jU *c@
第三篇 光学薄膜检测技术 gA:unsI
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Kn*LwWne
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 C7=N`s}
6.2 薄膜反射率的测试 ?D_^ 8\R
6.3 薄膜反射率的测量 )qua0'y]@
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 ~Z:)Y*
6.5 总结 @:Emmzucv|
习题 vI20G89E
参考文献 r7jh)Q;BbR
第7章 薄膜的吸收和散射测量 k!"6mo@rd
7.1 激光量热计基本原理 w'6sJ#ba(
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 +.-g`Vyz*
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 dlRTxb^Y>u
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 Sfa;;7W@R
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 hYbaVE
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 f=IF_|@^S
7.7 总结 <)a7Nrc\T
习题 ^O
QeOTF
参考文献 T"/dn%21
第8章 薄膜光学常数的测量 G Ml JM
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 #+ Y%Bxf
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 k![oJ.vHD
8.3 薄膜波导法 &)izh) FA
8.4 光学薄膜厚度的测试 8/<+p? 3p>
8.5 总结 OK(xG3T
习题 +Kp8X53
参考文献 6>gm!6`
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 :(YFIW`59
9.1 薄膜的力学特性检测技术 &fW'_,-
9.2 薄膜器件的环境试验 g=$nNQ
\6=
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 S.; ahce
9.4 总结 N$.=1Q$F6
习题 '<U4D
参考文献 ! NJGW
附录 *G8Z[ht%r
附录A 复数与复数运算 &S39SV
A.1 复数的概念 /5X_gjOL,
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 >VppM `
A.3 复数在物理中的运用 VA@
附录B 矩陈及矩陈运算 Vy6~O|68=
B.1 矩陈的定义 cs 58: G5
B.2 矩陈运算 Pa'N)s<
附录C 光的电磁理论基础 hd W7Qck "
C.1 振动与波 r72zWpF!Ss
C.2 电磁波 pf&U$oR4
C.3 麦克斯韦方程 )4RSo&9p`
C.4 平面电磁波 P2F8[o!<
C.5 平面电磁波性质 QJSi|&Rx&?
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 X!6$<8+1OV
附录D 光的干涉 P8[k1"c!
D.1 波的叠加原理 s_3a#I
D.2 杨氏干涉
akG|ic-~
D.3 平板的表面干涉 p]qz+Z/
D.4 光的空间相干性和时间相干性
Wf~PP;
附录E 光的偏振 Y?- "HK:
E.1 自然光和偏振光 X/Ii}X/p
E.2 偏振光与Jones矩陈 CIVV"p`}
E.3 偏振光的获得 X o[GD`t
E.4 偏振光的检验