现代光学薄膜技术 本书目录 pTT00 `R
第一篇 光学多层膜设计 a% /D~5Z
第1章 光学薄膜特性的理论计算 v8zO Y#?
1.1 单色平面电磁波 Rm`P.;%
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 HX ,\a`
1.3 光学薄膜特性的理论计算 $,0EV9+af
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 @|{8/s Oq
习题 ;U#= H9_
第2章 光学薄膜的设计理论 Y@7n>U
2.1 矢量作图法 cPkP/3I]h
2.2 有效界面法 {^k7}`7,
2.3 对称膜系的等效层 pG 22N x
2.4 导纳图解技术 sRZ?Ilua6
习题 39I| .B"
第3章 光学薄膜系统的设计 p) VMYu
3.1 减反射膜 0`Uw[Er&
3.2 分束镜 d[Z x [=h
3.3 高反射膜 G l"hn
3.4 干涉截止滤光片 KGc!#C
3.5 带通滤光片 dH'02[;
3.6 特殊膜系 !s:_>P`MQ
习题 6n~) R
参考文献 v +o6ZNX
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 I@IE0+ [n
第4章 薄膜制备技术 ia,5=SKJ
4.1 真空淀积工艺 db @^CS[P
4.2 光学薄膜材料 .hUlI3z9
4.3 薄膜厚度监控艺术 ,/k Zt!
4.4 膜层厚度的均匀性 ]wfY<Z
习题 ,5j3 (Lk
参考文献 U.h2 (-p
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 g yegdky3
5.1 薄膜的形成过程 |kD69
}sG
5.2 薄膜的微观结构 uG/'9C6Z
5.3 薄膜的成分 bYq v)_8
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 \.>7w 1p
5.5 薄膜微观结构和改善 *IIA"tC
习题 QO>';ul5
参考文献 #XG3{MGX[
第三篇 光学薄膜检测技术 {&L^ |X
第6章 薄膜透射率和反射率测量 5z\,]
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 tx)$4 v
6.2 薄膜反射率的测试 A%x0'?GU
6.3 薄膜反射率的测量 rz&'wCiOO
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 [Jj@A(Cz
6.5 总结 3,2$N y3N
习题 [rW];H8:~
参考文献 L=fy!R
第7章 薄膜的吸收和散射测量 s0:M'wA
7.1 激光量热计基本原理 d p&G([
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 Bs|Xq'1M!;
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 PKC0Dt;F .
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 *e<}hm Dr
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ;?q}98-2
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 s
{^wr6B
7.7 总结 #) @#Qd
习题 f~ /hsp~Hp
参考文献 ijvDFyN>
第8章 薄膜光学常数的测量 8 nL9#b
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 D u T6Od/f
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 f=VlO d
8.3 薄膜波导法 g-B{K "z
8.4 光学薄膜厚度的测试 o!U(=:*b
8.5 总结 g$zGiqzMK
习题 ef_H*e
参考文献 bfm+!9=9S
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 fD3'Ye<R
9.1 薄膜的力学特性检测技术 )=`DEbT
9.2 薄膜器件的环境试验 X6_
RlV]Sk
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 w w[||
=
9.4 总结 7a^D[f0V
习题 bsr]Z&9rrk
参考文献 O[{/P:a
附录 1P'A*`!K
附录A 复数与复数运算 !] E ]Xd<
A.1 复数的概念 jSH.e?
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 -84%6p2-
A.3 复数在物理中的运用 VH<d[Mj
附录B 矩陈及矩陈运算 5k9
vY W5k
B.1 矩陈的定义 >d &0a:
B.2 矩陈运算 5S_fvW;
附录C 光的电磁理论基础 s6Dkh}:d
C.1 振动与波 :zq Un&k&
C.2 电磁波 %{pjC7j#
C.3 麦克斯韦方程
;(J&%
C.4 平面电磁波 u[PG/ploc
C.5 平面电磁波性质 9v;HE{>
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 $Dx*[.M3>
附录D 光的干涉 VzIZT{
D.1 波的叠加原理 6({)O1Z
D.2 杨氏干涉 %<+uJ'p j
D.3 平板的表面干涉 '+Z Jf&Ox
D.4 光的空间相干性和时间相干性 g|->W]q@;
附录E 光的偏振 x?lRObHK
E.1 自然光和偏振光 oU @! R
E.2 偏振光与Jones矩陈 kB=B?V~ #
E.3 偏振光的获得 k;`1Ia
E.4 偏振光的检验
