现代光学薄膜技术 本书目录 { Ji[d.cY
第一篇 光学多层膜设计 }F\0Bl&
第1章 光学薄膜特性的理论计算 s^E%Uk m
1.1 单色平面电磁波 "V^(i%E;
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 6T)D6;@L
1.3 光学薄膜特性的理论计算 u9 ?85
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 0lW}l9}'-
习题 {=& pnu\
第2章 光学薄膜的设计理论 Y pp>7J/
2.1 矢量作图法 9oN b= .
2.2 有效界面法 V-)q&cbW]q
2.3 对称膜系的等效层 0chBw~@*s
2.4 导纳图解技术 M~^|dR)D
习题 ]xFd_OHdb
第3章 光学薄膜系统的设计 6r^(V T
3.1 减反射膜 :vm*miOF
3.2 分束镜 =>ignoeI
3.3 高反射膜 *}LYMrP
3.4 干涉截止滤光片 7 Xw #
3.5 带通滤光片 p>!`JU`{?
3.6 特殊膜系 "y62Wo6m)
习题 OI1&Z4Lx
参考文献 I V!&jL
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 z m_mLk$4H
第4章 薄膜制备技术 gx #TRp}-
4.1 真空淀积工艺 x!
Z|^q
4.2 光学薄膜材料 (?$}Vp
4.3 薄膜厚度监控艺术 ;i\ i+:=
4.4 膜层厚度的均匀性 3'IF? ](]U
习题 I>fEwMk~
参考文献 /} (w{6C
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Azu$F5G!n
5.1 薄膜的形成过程 R5| c4v{B
5.2 薄膜的微观结构 A LKU
5.3 薄膜的成分 _g
3h XsA
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 zQ5'q
5.5 薄膜微观结构和改善 /\OjtE
习题 ~%>ke
参考文献 Bg Uf:PT
第三篇 光学薄膜检测技术 _0 ep[r
第6章 薄膜透射率和反射率测量 >^kRIoBkg
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 eSJ5YeY)
6.2 薄膜反射率的测试 >f74]J=V
6.3 薄膜反射率的测量 z[[|'02{
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 1V H7z
6.5 总结 *7`;{O
习题 j<e`8ex?
参考文献 v2/@Pu!kg
第7章 薄膜的吸收和散射测量 qfx=
7.1 激光量热计基本原理 D O#4E<]5
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 3~%9;.I3!
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 K+2<{qwh
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 e G =Hyc
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 w%KU@ $
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 4 ZSc'9e9
7.7 总结 L >Y%$|4
习题
5Ta<$ t
参考文献 Jvgx+{Xu
第8章 薄膜光学常数的测量 DTH;d-Z
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 7CWz)LT
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 *FmY4w
8.3 薄膜波导法 ?45bvkCT
8.4 光学薄膜厚度的测试 H0LEK(K
8.5 总结 .T#h5[S2x
习题 ko2 ?q
参考文献 zU}Ru&T 9
第9章 薄膜非光学特性的检测技术
au1uFu-
9.1 薄膜的力学特性检测技术 \u 9l4
9.2 薄膜器件的环境试验 F ^f L
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 o]u,<bM$
9.4 总结 GHa D 3 2
习题 l`>|XUf6
参考文献 =c8xg/
附录 h/?$~OD
附录A 复数与复数运算 U9 [QdC
A.1 复数的概念 vtk0 j
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 o9*}>J<+RQ
A.3 复数在物理中的运用 @Fvp~]jCb
附录B 矩陈及矩陈运算 k[#<=G_=/E
B.1 矩陈的定义 1wAD_PI|BH
B.2 矩陈运算 ?d&l_Pa0e
附录C 光的电磁理论基础 Qu"zzb"k
C.1 振动与波 %{I b
C.2 电磁波 (_1(<Jw
C.3 麦克斯韦方程 v P;
C.4 平面电磁波 .FYxVF.
C.5 平面电磁波性质 z_nv|5"
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 J[ ; g
\
附录D 光的干涉 40 h
D.1 波的叠加原理 [
*P~\' U
D.2 杨氏干涉 PuO5@SP~
D.3 平板的表面干涉 ^__';! e
D.4 光的空间相干性和时间相干性 qca,a3k
附录E 光的偏振 &UrPb%=2H
E.1 自然光和偏振光 2 z E gAc
E.2 偏振光与Jones矩陈 -j& A;G
E.3 偏振光的获得 5NGQWg
E.4 偏振光的检验
