现代光学薄膜技术 本书目录 S5y.H
第一篇 光学多层膜设计 aVc{ aP
第1章 光学薄膜特性的理论计算 $$&.}}.,
1.1 单色平面电磁波 -,p=;t#(
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ]- `wXi"
1.3 光学薄膜特性的理论计算 }(ORh2Ri
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 * zyik[o
习题 |3@DCb T
第2章 光学薄膜的设计理论 )rG4Nga5}
2.1 矢量作图法 Cgh84
2%
2.2 有效界面法 Q-gVg%'7
2.3 对称膜系的等效层 %%uE^nX>
2.4 导纳图解技术 zp1ym }9M
习题 U za '%R
第3章 光学薄膜系统的设计 0Q_*Z (
3.1 减反射膜 R( FQ+h
3.2 分束镜 Dpw*m.f
3.3 高反射膜 Cg]),S
3.4 干涉截止滤光片 }P
fAf
3.5 带通滤光片 0C/ZcfFU~
3.6 特殊膜系 }>u `8'2v
习题 ;' uQBx}
参考文献 g)#{<#*2
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 uy3<2L#.
第4章 薄膜制备技术 6xJffl
4.1 真空淀积工艺 &EQhk9j
4.2 光学薄膜材料 Rxd4{L
)n
4.3 薄膜厚度监控艺术 PKSfu++Z
4.4 膜层厚度的均匀性 $P0q!
习题 Q[7 i
参考文献 PLc5 m5
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 x2#JD|0
5.1 薄膜的形成过程 M s(xQ[#+
5.2 薄膜的微观结构 A:r?#7 Ma
5.3 薄膜的成分 Zg(Y$ h\
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 FH Soj=
5.5 薄膜微观结构和改善 ~dRstH7u
习题 r8Pd}ptPU
参考文献 cZ?Q I6|[
第三篇 光学薄膜检测技术 Kg$RT?q-C6
第6章 薄膜透射率和反射率测量 6& eXQl
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 /;Tc]
6.2 薄膜反射率的测试 S v>6:y9?G
6.3 薄膜反射率的测量 P6 OnE 18n
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 U+)p'%f;
6.5 总结 == 5F[U X
习题 A> yU0\A
参考文献 :/;/mHG]
第7章 薄膜的吸收和散射测量 7R2O[=Szq
7.1 激光量热计基本原理 EX`P (=zD
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 'RK"/ZhqE
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 .Q*X5Fc
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 uPA
( 1
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 G:1'}RC :
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 %x$U(I}
7.7 总结 S }`sp[6
习题 H0Pxw
P>q
参考文献 MePD:;mm^
第8章 薄膜光学常数的测量 ;"wCBuXcu
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 ((k"*f2%
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 5G* cAlU
8.3 薄膜波导法 85GIEUvH/
8.4 光学薄膜厚度的测试 f
V. c6
8.5 总结 7C{ y NX#
习题 fSuykbZ
参考文献 .gRj^pu
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 fe?Z33V
9.1 薄膜的力学特性检测技术 y p.K-
9.2 薄膜器件的环境试验 BPba3G9H
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 ~f1g"
9.4 总结 do}LaUz
习题 iEr,ly
参考文献 O<gfZ>
附录 T
pk SY`T
附录A 复数与复数运算 w
)R5P[b
A.1 复数的概念 &7aWVKon
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 wSTul o: 9
A.3 复数在物理中的运用 / 8cRPB.
附录B 矩陈及矩陈运算 $<^t][{
B.1 矩陈的定义 ?['!0 PF
B.2 矩陈运算 Tu#< {'1$
附录C 光的电磁理论基础 yw3"j dcl
C.1 振动与波 Sjpx G@k
C.2 电磁波 E
$@W~).!
C.3 麦克斯韦方程 +2~k Hr v
C.4 平面电磁波 du3f'=q6|
C.5 平面电磁波性质 (jgk !
6
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 0s#72 }n
附录D 光的干涉 %@/^UE:
D.1 波的叠加原理 m~ tvuz I
D.2 杨氏干涉 sHP -@
D.3 平板的表面干涉 ]A#lV$
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Sq o+cZ
附录E 光的偏振 -4a9 BE".
E.1 自然光和偏振光 BM%w Z:
s
E.2 偏振光与Jones矩陈 WN jwv/
E.3 偏振光的获得
157_0
E.4 偏振光的检验
