现代光学薄膜技术 本书目录 x3gwG)Sf
第一篇 光学多层膜设计 0Y[*l M-
第1章 光学薄膜特性的理论计算 >1m)%zt
1.1 单色平面电磁波 )-)ss"\+Ju
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 U)
+?$
Tbm
1.3 光学薄膜特性的理论计算 HgYc@P*b
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 |OOXh[y
习题 xQX<w\s
第2章 光学薄膜的设计理论 dFx2>6AZt
2.1 矢量作图法 T=^jCH &
2.2 有效界面法 L7s>su|c(
2.3 对称膜系的等效层 KlY,NSlQ
2.4 导纳图解技术 2]2{&b u
习题 LjSLg [ i
第3章 光学薄膜系统的设计 qo)Q}0
3.1 减反射膜 _ y iR h:
3.2 分束镜 ht2
f-EKf{
3.3 高反射膜 Qk+=znJ
3.4 干涉截止滤光片 j.<:00<
3.5 带通滤光片 $Z,i|K;
3.6 特殊膜系 ||yXp2
习题 -)4uYK*
参考文献 iJ,M-GHK
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 -,FK{[h]ka
第4章 薄膜制备技术 79 TPg
4.1 真空淀积工艺 }Q!h ov
4.2 光学薄膜材料 >g>f;\mD7$
4.3 薄膜厚度监控艺术 mYiSR
4.4 膜层厚度的均匀性 g8 LT 7
习题 &/ sGh0
参考文献 i/ 5 y^
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ay=KfY5
5.1 薄膜的形成过程 V V?]U$
5.2 薄膜的微观结构 7fap*
5.3 薄膜的成分 /_ $~rW
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 6e -#XCR{
5.5 薄膜微观结构和改善 $7msL#E7
习题 #L_@s
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参考文献 ? (fQ<i n
第三篇 光学薄膜检测技术 ;3 G~["DA
第6章 薄膜透射率和反射率测量 <P|`7wfxE
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 -
P\S>G.
6.2 薄膜反射率的测试 [u/zrpTk
6.3 薄膜反射率的测量 zY]Bu-S3
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 0\? _ lT2
6.5 总结 8T8pAs0
p
习题 J
ZVr &KZN
参考文献 ]jHgo](%
第7章 薄膜的吸收和散射测量 IUluJ.sXIf
7.1 激光量热计基本原理
H;b 8I
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 ^;0~6uBEJr
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 T [i7C3QS
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 `
(7N ^@
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 rF Ko E%
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 [ED!J~lg8
7.7 总结 C>.]Bvg
习题 B`g<G e~
参考文献 P3+)pOE-SI
第8章 薄膜光学常数的测量 <{$ ev&bQ
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 )p^m}N 6M]
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 e*Uz# w:
8.3 薄膜波导法 K )yCrEZ
8.4 光学薄膜厚度的测试 ~bQFk?ZN+
8.5 总结 <bEN8b
习题 g0^~J2sDd
参考文献 * \=2KIF'
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 wm ); aWP
9.1 薄膜的力学特性检测技术 u~' m7
9.2 薄膜器件的环境试验 d%}crM-KTL
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 j#*asGdp#J
9.4 总结 LL|_c4$Ky
习题 k) H[Xp M
参考文献 X% Spv/8{
附录 :)K TZ
附录A 复数与复数运算 fOqS|1rC
A.1 复数的概念 %k/
k]: s
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 i1b 4 J
A.3 复数在物理中的运用 uB5h9&5 7
附录B 矩陈及矩陈运算 .\z| Fr
B.1 矩陈的定义 _Vd b?
B.2 矩陈运算 .jU|gf:x
附录C 光的电磁理论基础 B(4:_ j\2
C.1 振动与波 Fpj6Atk
C.2 电磁波 OoAr%
C.3 麦克斯韦方程 * kX3sG$8
C.4 平面电磁波 GN htnB
C.5 平面电磁波性质 <.PPs:{8#
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 7h9 fQ&y
附录D 光的干涉 )
xfc-Q
D.1 波的叠加原理 R$!;J?SS
D.2 杨氏干涉 !.;xt L
D.3 平板的表面干涉 u^#4G7 <
D.4 光的空间相干性和时间相干性 Rxvd+8FF
附录E 光的偏振 ;k yL>mV{
E.1 自然光和偏振光 `nd#< w>
E.2 偏振光与Jones矩陈 88 tFB
E.3 偏振光的获得 37:b D
E.4 偏振光的检验
