现代光学薄膜技术 本书目录 ' ; +;
第一篇 光学多层膜设计 'X_iiR8n@p
第1章 光学薄膜特性的理论计算 `.
/[/ z-g
1.1 单色平面电磁波 z_*] joL
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 $|C%G6!s?@
1.3 光学薄膜特性的理论计算 u'd+:uH
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 RsIEY5Q
习题 ?Mp~^sgp'
第2章 光学薄膜的设计理论 Oo`P +S#
2.1 矢量作图法 ~q?IG5s*Z
2.2 有效界面法 iH9g5G`O
2.3 对称膜系的等效层 o B-&ma[ZS
2.4 导纳图解技术 #-'=)l}i1A
习题 '/\@Mc4T
第3章 光学薄膜系统的设计 %/oOM\} ++
3.1 减反射膜 ^8o'\V"m^
3.2 分束镜 25l6@7q.
3.3 高反射膜 6.6~w\fR8
3.4 干涉截止滤光片 0(Vbji
3.5 带通滤光片 i`gsT[JQRX
3.6 特殊膜系
\u2K?wC
习题 3Ym5SrKK
参考文献 b )en/mz
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 J@oGAa%3)
第4章 薄膜制备技术 ~B:Lai4"
4.1 真空淀积工艺 F]
+t/
4.2 光学薄膜材料 la8se=^
4.3 薄膜厚度监控艺术 H #E
4.4 膜层厚度的均匀性 R#
8D}5 [&
习题 t+q LQY}=
参考文献 ""^9WLH4g-
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Vt5%A}.VQ
5.1 薄膜的形成过程 EQyRP.
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5.2 薄膜的微观结构 x]euNa
5.3 薄膜的成分 Ar'}#6
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 dY~3 YD[
5.5 薄膜微观结构和改善 90k|W >
习题 }1`Rq?@J
参考文献 `-\4Dx1!q
第三篇 光学薄膜检测技术 *na7/ysT<
第6章 薄膜透射率和反射率测量 Jb6 rEV>
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 9'3bzhT$
6.2 薄膜反射率的测试 $P^=QN5 Bb
6.3 薄膜反射率的测量 Ki ^m&P
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 T)3#U8sT
6.5 总结 jn^i4f>N
习题 W$EX6jTGI
参考文献 H5, { Z
第7章 薄膜的吸收和散射测量 #Q^mdv?
7.1 激光量热计基本原理 *Sz `=U7n
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 "3Dvc7V
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 (dpBGt@
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 <9"s&G@
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ).9-=P HlX
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 b[uTt'p}
7.7 总结 x4*8q/G=D
习题 5`^"<wNI
参考文献 l2 gI2Cioa
第8章 薄膜光学常数的测量 oMLpl3pl
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 &'WgBjP
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 iFF/[P
8.3 薄膜波导法 ,PJl32
8.4 光学薄膜厚度的测试 /#
0@C[9
8.5 总结 To}L%)
习题 /p<mD-:.M
参考文献 IhM-a
Y
y5
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 MG8-1M
9.1 薄膜的力学特性检测技术 q1r\ 60M
9.2 薄膜器件的环境试验 Vn];vN
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 7; T S
9.4 总结 A~*Wr+pv
习题 E I EwrC
参考文献 x[WT)
附录 |g8
]WFc
附录A 复数与复数运算 LMsb TF@E
A.1 复数的概念 Qyt6+x L
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 d am.D.o"
A.3 复数在物理中的运用 z]Ql/AK
附录B 矩陈及矩陈运算 BzTm[ `(h
B.1 矩陈的定义 p"q-sMYl
B.2 矩陈运算 0<nKB}9
附录C 光的电磁理论基础 d`({z]W;
C.1 振动与波 =\Cb X
C.2 电磁波 wKk
C.3 麦克斯韦方程 +=\S "e[F
C.4 平面电磁波 !RiPr(m@y
C.5 平面电磁波性质 (ter+rTv
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 :w:5;cm V
附录D 光的干涉 kZUuRB~om
D.1 波的叠加原理 oJ6
d :
D.2 杨氏干涉 G <Lm}
D.3 平板的表面干涉 [C771~BL>
D.4 光的空间相干性和时间相干性 HFo}r~
附录E 光的偏振 'v6Rd )E\z
E.1 自然光和偏振光 `+"QhQ4 w
E.2 偏振光与Jones矩陈 @3VL
_g:
E.3 偏振光的获得 f} Uw%S=w,
E.4 偏振光的检验
