现代光学薄膜技术 本书目录 `v?hL~
第一篇 光学多层膜设计 6Jgl"Jw8
第1章 光学薄膜特性的理论计算 n~0wq(8M
1.1 单色平面电磁波 `*U @d%a
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ]{tWfv|Xg8
1.3 光学薄膜特性的理论计算 bm;iX*~
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 O+-+=W
习题 <);j5) /
第2章 光学薄膜的设计理论 4b}p[9k
2.1 矢量作图法 L s2OnL9
2.2 有效界面法 u/W{JPlL
2.3 对称膜系的等效层 \0|x<~#j'
2.4 导纳图解技术 }P2*MrkcHB
习题 yl>^QMmo
第3章 光学薄膜系统的设计 ?Z|y-4 &>
3.1 减反射膜 *l d)nH{
3.2 分束镜 W<<G
'Km
3.3 高反射膜 |e8A)xM]wC
3.4 干涉截止滤光片 n WelM2
3.5 带通滤光片 Z( :\Vj"
3.6 特殊膜系 z \v
习题 ; FlDRDZ%
参考文献 E `N`
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 4"PA7
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第4章 薄膜制备技术 2\{/|\
4.1 真空淀积工艺 O4-#)#-)S~
4.2 光学薄膜材料 Wda?$3!^q
4.3 薄膜厚度监控艺术 >0kL9_9{
4.4 膜层厚度的均匀性 j &[lDlI_
习题 v0r:qku
参考文献 M ]V
j
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 e|A=sCN-
5.1 薄膜的形成过程 i8<5|du&?
5.2 薄膜的微观结构 |%4nU#GoB
5.3 薄膜的成分 +
o< 7*
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 SMvlEj^
5.5 薄膜微观结构和改善 a\-5tYo`u
习题 MeD/)T{ G~
参考文献 n kq{_;xp
第三篇 光学薄膜检测技术 ?z`yNx6
第6章 薄膜透射率和反射率测量 -0(+ a$P7e
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 '1!%yKc0
6.2 薄膜反射率的测试 mmFc ch$Jv
6.3 薄膜反射率的测量 Iv7BIK^ 0
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 je\]j-0$u
6.5 总结 :qXREF@h
习题 tklS=R^Vn
参考文献 %. [AZ>
第7章 薄膜的吸收和散射测量 bjUe + #BL
7.1 激光量热计基本原理 z@[n?t!7k
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 MXVCu"g%
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 (N}\ Wft%
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 -{3^~vW|<
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 +S V!QMIg
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 ,DKW_F|
7.7 总结 ]I~BgE;C9
习题 O,@QGUoA
参考文献 .O5|d+S
第8章 薄膜光学常数的测量 0Ns Po
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 bN*zx)f
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 _ 58&^:/^
8.3 薄膜波导法 W*c^(W
8.4 光学薄膜厚度的测试 5;{*mJ:F
8.5 总结 yj,+7[)
习题 H ow:_ Hj
参考文献 1i Y?t
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 1g!%ej
j d
9.1 薄膜的力学特性检测技术 :)_P7k`>e/
9.2 薄膜器件的环境试验 NnZ_x>R
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 bB.nevb9p
9.4 总结 D5T0o"A
习题 7Il
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参考文献 (>D{"}
附录 aj+I+r"~
附录A 复数与复数运算 nNM)rW
A.1 复数的概念 ;hDIoSz
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 D>#Jh>4
A.3 复数在物理中的运用 b#e|#!Je
附录B 矩陈及矩陈运算 Y%rC\Ij/i
B.1 矩陈的定义 >*w(YB]/$V
B.2 矩陈运算 Rm.9` <Y
附录C 光的电磁理论基础 Qa16x<Xlm
C.1 振动与波 vP<8 ,XG
C.2 电磁波 ~o ;*{ Q
C.3 麦克斯韦方程 l &Fx<
W
C.4 平面电磁波 fwyz|>H_Y(
C.5 平面电磁波性质 ]kkH|b$[T
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ;S> ml
附录D 光的干涉 QEL3b4Vm
D.1 波的叠加原理 0.Nik^~
D.2 杨氏干涉 `_e 1LEH
D.3 平板的表面干涉 X15e~;&
D.4 光的空间相干性和时间相干性 bD cWPwe
附录E 光的偏振 FJ&?My,=J
E.1 自然光和偏振光 ErMA$UkJ
E.2 偏振光与Jones矩陈 c;7ekj
E.3 偏振光的获得 r#.\5aQ t
E.4 偏振光的检验
