现代光学薄膜技术 本书目录 7Y /_/t~Y
第一篇 光学多层膜设计 K-ebAa iC
第1章 光学薄膜特性的理论计算 xX ZN<<f59
1.1 单色平面电磁波 -|mABHjx*
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 x% 1Rp[
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ]7;;uhn`
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 K#jm6Xh?E
习题 Cb.Aw!
第2章 光学薄膜的设计理论 YC~+r8ME$j
2.1 矢量作图法 &3<]FK
2.2 有效界面法 /NZ R|
2.3 对称膜系的等效层 ?= /l@ d
2.4 导纳图解技术 %:lQ ~yn
习题 lgl/|
^ Uw
第3章 光学薄膜系统的设计 eo!z>9#.
3.1 减反射膜 eC?N>wHH
3.2 分束镜 Y%3j >_\;
3.3 高反射膜 A Ho<E"R\
3.4 干涉截止滤光片 5zU$_ M
3.5 带通滤光片 Mt u8zm
3.6 特殊膜系
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习题 u|e2T@t=
参考文献 ^IpS 3y
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 EOL03N
第4章 薄膜制备技术 8g\.1<~
4.1 真空淀积工艺 AOpfByw
4.2 光学薄膜材料 d=[ .
4.3 薄膜厚度监控艺术 %llG/]q#
4.4 膜层厚度的均匀性 FE`J.aw^X
习题 VrpY B U
参考文献 "'% x|nB
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 XIU2l}g
5.1 薄膜的形成过程 <T['J]k%
5.2 薄膜的微观结构 ]^!#0(
5.3 薄膜的成分 wjkN%lPfvj
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 V%))%?3x_
5.5 薄膜微观结构和改善 a.P^+h
习题 >a,w8 ^7
参考文献 AW w:N6\
第三篇 光学薄膜检测技术 .$Y[>9
第6章 薄膜透射率和反射率测量 1z)+P1nH]
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 "xWC49
6.2 薄膜反射率的测试 4R6X"T9-
6.3 薄膜反射率的测量 .*ZNZ|g_
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 OA+W$
6.5 总结 s:%>H|-
习题 _ v-sb(*
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参考文献 [* Lh4K
第7章 薄膜的吸收和散射测量 q Fay]V(O|
7.1 激光量热计基本原理 %luj me
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 x[]n\\a?
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 #p^D([k
\
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 Q?~l =}2
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 dG1qrh9_-
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 17-K~ybc
7.7 总结 f.!cR3XgV
习题 k7j;'6
参考文献 <3 i!{"}
第8章 薄膜光学常数的测量 )pg?Z M9
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 5z0SjQ
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 o^Ms(?K%t
8.3 薄膜波导法 |KuH2, n0
8.4 光学薄膜厚度的测试 5'X.Z:
8.5 总结 8E D6C"6
习题 ! aL L|}S
参考文献 $ # CkI09
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 %#=
1?1s
9.1 薄膜的力学特性检测技术 (|W@p \Q
9.2 薄膜器件的环境试验 g1Aq;Ah /
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 ALhu\x>AY
9.4 总结 )AnX[:y
习题 3iDRt&y=.
参考文献 }nkX-PG9
附录 < d?O#(
附录A 复数与复数运算 vuHqOAFNs
A.1 复数的概念 h W(Mf
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 0N md*r
A.3 复数在物理中的运用 zI&oZH^v n
附录B 矩陈及矩陈运算 NI3_wV
B.1 矩陈的定义 -e30! A
B.2 矩陈运算 jfk`%C Ek=
附录C 光的电磁理论基础 fxjs "rD5
C.1 振动与波 L \pe
C.2 电磁波 ^dQ#\uy
C.3 麦克斯韦方程 XSXS;Fh)
C.4 平面电磁波 DvU(rr\p
C.5 平面电磁波性质 d&F8nBIM5
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 c'[l%4U8[
附录D 光的干涉 >-f`mT
D.1 波的叠加原理 Po% V%~
D.2 杨氏干涉 3#W>
D.3 平板的表面干涉 |* Hw6m
D.4 光的空间相干性和时间相干性 f Vw+8 [d0
附录E 光的偏振 K^EW*6vB8O
E.1 自然光和偏振光 NeQ/#[~g
E.2 偏振光与Jones矩陈 G;MmD?VJ g
E.3 偏振光的获得 =j6f/8
E.4 偏振光的检验
