现代光学薄膜技术 本书目录 sC-o'13
第一篇 光学多层膜设计 y&$n[j
第1章 光学薄膜特性的理论计算 +5zXbfO
1.1 单色平面电磁波 )=~&l={T
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 e"04jd/
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ]rlZP1".
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 /w?e(v<
习题 {zb'Z Yz
第2章 光学薄膜的设计理论 ]UvB+M]Lv)
2.1 矢量作图法 u<S`"MR:J
2.2 有效界面法 c| ?(>
2.3 对称膜系的等效层 ps{4_V-3 u
2.4 导纳图解技术 *cb|9elF^
习题 4eHSAN"$
第3章 光学薄膜系统的设计 e S8(HI6{^
3.1 减反射膜 _N`.1Dl%Q
3.2 分束镜 4zMvHe
3.3 高反射膜 m# {' 9 |
3.4 干涉截止滤光片 ?J:w,,4m
3.5 带通滤光片 ftYJ 3/ WH
3.6 特殊膜系 60+ zoL'
习题 B(W~]i
参考文献 Av.tr&ZNb
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 lCU clD
第4章 薄膜制备技术 3:WqUb\QK
4.1 真空淀积工艺 f]NLR>$L}
4.2 光学薄膜材料 N
)Z>]&5
4.3 薄膜厚度监控艺术 W[&nQW$E
4.4 膜层厚度的均匀性 GeR#B;{
习题 mo| D
参考文献 *wTX
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 =!\Nh,\eQ
5.1 薄膜的形成过程 /!H24[tnk1
5.2 薄膜的微观结构 ) ;0
5.3 薄膜的成分 Nh!`"B2B
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 f+ r>ur}\)
5.5 薄膜微观结构和改善 >+%#m'Y&&
习题 px;~20$e
参考文献 <,~OcJG(
第三篇 光学薄膜检测技术 OWvblEBF
第6章 薄膜透射率和反射率测量 oZ%uq78#[%
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 V(& L
6.2 薄膜反射率的测试 /]U$ OP*0
6.3 薄膜反射率的测量 5sY $
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 -gs
I:-Xo
6.5 总结 /!Rva"
习题 #&|"t< }
参考文献 |ty&}'6C
第7章 薄膜的吸收和散射测量 TQn!MUj/^
7.1 激光量热计基本原理 HkD. W6A3
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 e4YfJd
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 mV^w|x
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 j
e\!0{
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 6{+yAsI
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 [(n5-#1S
7.7 总结 1clzDwW
习题 ( >}1t!1
参考文献 c^ W;p2^
第8章 薄膜光学常数的测量 ]t 0o%w
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 u#ya
8
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 8-G )lyfj
8.3 薄膜波导法 =zn'0g, J4
8.4 光学薄膜厚度的测试 gN/!w:
8.5 总结 Y][12{I{
习题 =i)%AnZ^9
参考文献 ^(; x-d3
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 $ oW= N
9.1 薄膜的力学特性检测技术 /g u
VA
9.2 薄膜器件的环境试验 UuIjtqW
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 4u5j
7`O
9.4 总结 (XOz_K6c%K
习题 < J^5l0)q
参考文献 5RLO}Vn ]
附录 7@{%S~T N
附录A 复数与复数运算 v6)QLp
A.1 复数的概念 "==c
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 | l Le^FM
A.3 复数在物理中的运用 IgbuMEfL
附录B 矩陈及矩陈运算 9':Ipf&x
B.1 矩陈的定义 7#) k-S!B
B.2 矩陈运算 le5@WG/x
附录C 光的电磁理论基础 $j- Fm:ZIA
C.1 振动与波 rai'x/Ut}+
C.2 电磁波 6Jgl"Jw8
C.3 麦克斯韦方程 ?,VpZ%Df2
C.4 平面电磁波 _&= `vv'
C.5 平面电磁波性质 Apu - 9|oP
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 S[L@8z.Sj
附录D 光的干涉 Gm-
"?4 (
D.1 波的叠加原理 6O/ L~Z*t
D.2 杨氏干涉 cs2-jbRn
D.3 平板的表面干涉 XB'rh F8rl
D.4 光的空间相干性和时间相干性 z_(l]Ern}
附录E 光的偏振 7Ydqg&
E.1 自然光和偏振光 f?Ex$gn I
E.2 偏振光与Jones矩陈 Ps0 Cc _
E.3 偏振光的获得 iB 0r+IbR
E.4 偏振光的检验
