现代光学薄膜技术 本书目录 d^"<T z!
第一篇 光学多层膜设计 ?:(BkY,K5
第1章 光学薄膜特性的理论计算 Z }(,OZh
1.1 单色平面电磁波 +~Ni7Dp]
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 P8jXruZr
1.3 光学薄膜特性的理论计算 & u-H/C U%
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 oR'8|~U@B
习题 u 9Wi@sO#
第2章 光学薄膜的设计理论 |tC`rzo
2.1 矢量作图法 jX5lwP
Q|F
2.2 有效界面法 K4]c
2.3 对称膜系的等效层 UxZT&x3=)}
2.4 导纳图解技术 Vk/CV2
习题 ]2kgG*^n"
第3章 光学薄膜系统的设计 bKsl'3~ k
3.1 减反射膜 ^&iUC&8W
3.2 分束镜 1{B^RR.
3.3 高反射膜 bq5tEn
3.4 干涉截止滤光片 &?\ h[ 3
3.5 带通滤光片 #wH<W5gSZ
3.6 特殊膜系 {8Jr.&Y2
习题 &]gw[
`
参考文献 7(<6+q2~
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 *k:Sg*neVq
第4章 薄膜制备技术 "f|\" :\
4.1 真空淀积工艺 \(U w. ri
4.2 光学薄膜材料 ~W'>L++
4.3 薄膜厚度监控艺术 MsMNP[-l
4.4 膜层厚度的均匀性 5bZf$$b
习题 _
F&BSu
参考文献 b_xn80O
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Vt-D8J\A
0
5.1 薄膜的形成过程 )En *5-1
5.2 薄膜的微观结构 YNCQPN\v`1
5.3 薄膜的成分 5tMp@$F\{[
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 .C fi/
5.5 薄膜微观结构和改善 <$)F_R~T3
习题 oTj9 /r
参考文献 }ie\-V
第三篇 光学薄膜检测技术 ml $" C
第6章 薄膜透射率和反射率测量 +~lZ]a7k
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 sF aboI
6.2 薄膜反射率的测试 {f;]
6.3 薄膜反射率的测量 7Pu.<b}
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 a= 3?hVpB
6.5 总结 [ UN`~
习题 _MfXN$I?}
参考文献 SS; [{u !
第7章 薄膜的吸收和散射测量 K@u\^6419
7.1 激光量热计基本原理 dx{ ZG'@aH
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 :=u Ku'~
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 Qzbelt@Wx
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 p3Uus''V4
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 B\BxF6 y
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 Ym~*5|
7.7 总结 I9GRSm;0<
习题 5(kRFb'31F
参考文献 hawE2k0p(
第8章 薄膜光学常数的测量 |U}al[
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 / 0Z_$Q&e
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 A%S6&!I:(
8.3 薄膜波导法 c%,~ 1l
8.4 光学薄膜厚度的测试 X2PQL" `
8.5 总结 H2oAek(
习题 ][R#Q;y<
参考文献 3(|8gWQ
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 alM
^
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9.1 薄膜的力学特性检测技术 noz&4"S.{
9.2 薄膜器件的环境试验 V 4Y w"J
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 z Q tg]@S
9.4 总结 -'
7I | r
习题 > D:( HWL
参考文献 J6 }J /
附录 S0+nQM%
附录A 复数与复数运算 j_2-
A.1 复数的概念 RM2<%$
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 @?,iy?BSG
A.3 复数在物理中的运用 nY7
ZK
附录B 矩陈及矩陈运算 ZujPk-
B.1 矩陈的定义 e-vwve
B.2 矩陈运算 z)$ X/v
附录C 光的电磁理论基础 v{7Jzjd
C.1 振动与波 Cf# [E~2 4
C.2 电磁波 `e m}vdY
C.3 麦克斯韦方程 J)R;NYl
C.4 平面电磁波 >gNVL
(
C.5 平面电磁波性质 0. _)X
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 sYlA{Z"
附录D 光的干涉 k`H#u, &
D.1 波的叠加原理 Zi$v- b*<
D.2 杨氏干涉 U2 0@B`<
D.3 平板的表面干涉 +c@s
D.4 光的空间相干性和时间相干性 uH'n.d"WG
附录E 光的偏振 f>d aK9$(
E.1 自然光和偏振光 1^<R2x
E.2 偏振光与Jones矩陈 ~3YN;S t-
E.3 偏振光的获得 Y0`=h"g
E.4 偏振光的检验
