现代光学薄膜技术 本书目录 '9gI=/29D
第一篇 光学多层膜设计 1 DP)6{x
第1章 光学薄膜特性的理论计算 ;z>YwRV
1.1 单色平面电磁波 2vC=.1k
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ; <A/e
1.3 光学薄膜特性的理论计算 L9@jmh*E
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 Ah`dt 8t
习题 11sW$@xs
9
第2章 光学薄膜的设计理论 QFYy$T+W
2.1 矢量作图法 5PPpX = \
2.2 有效界面法 |*5nr5c_L
2.3 对称膜系的等效层 K;l'IN"N
2.4 导纳图解技术 K; PpS*!
习题 CmOb+:4@K
第3章 光学薄膜系统的设计 rWXW}Yg
3.1 减反射膜 xTMTkVa+B
3.2 分束镜 P$Q &xN<#)
3.3 高反射膜 w$4Lu"N :
3.4 干涉截止滤光片 UJ[a& b
3.5 带通滤光片 Ev16xL8B
3.6 特殊膜系 Kc0OLcu^d
习题 fn a>>
参考文献 [B o $?
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 >``GDjcJ
第4章 薄膜制备技术 9_3M}|V$^e
4.1 真空淀积工艺 }[`?#`sW
4.2 光学薄膜材料 vNbA/sM
4.3 薄膜厚度监控艺术 Cj+=9Dc
4.4 膜层厚度的均匀性 Cd O-xL6F
习题 K oJG! Rm
参考文献 +kL(lBv'
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 iurB8~Y
5.1 薄膜的形成过程 o=QF>\ \
5.2 薄膜的微观结构 N sL"p2w~
5.3 薄膜的成分 ,m,vo_Ub
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 :F=nb+HZ
5.5 薄膜微观结构和改善 ;G]'}$`/q
习题 ;g
jp&g9Q
参考文献 ~*Qpv&y)
第三篇 光学薄膜检测技术 )g _zPt
第6章 薄膜透射率和反射率测量 hJsC
\ C,^
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 %LHV 0u
6.2 薄膜反射率的测试 QO k"UP
6.3 薄膜反射率的测量 u0b-JJ7)BQ
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 iG LYM-
6.5 总结 t8 "-zd8
习题 <v k$eB8EC
参考文献 |81N/]EER
第7章 薄膜的吸收和散射测量 ~+yo;[1Yc
7.1 激光量热计基本原理 q&T'x> /
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 @ 98SC}}u
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 J94YMyOo
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ?
M _SNv
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 z&, sm5L b
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 e622{dfVS
7.7 总结 8 { %9%{
习题 M) XQi/
参考文献 mp3_ n:R?
第8章 薄膜光学常数的测量 `|Z@UPHzG
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 JSK5x(GlH
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 4ZpF1Zc4B
8.3 薄膜波导法 $4JX#lkt
8.4 光学薄膜厚度的测试 #`0z=w/)
8.5 总结 }yDq\5s
Q[
习题 !13
/+ u
参考文献 .WyX/E$I^!
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 y4rJ-
9.1 薄膜的力学特性检测技术 PJ:5Lb<
9.2 薄膜器件的环境试验 _4B iF?1
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 (Gc`3jJ
9.4 总结 G;c0
习题 %uqD\ `-
参考文献 9R"N#w.U]
附录 -Bv1}xf=6
附录A 复数与复数运算 h_G Bx|c
A.1 复数的概念 4Xk;Qd
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 b:cK >fh0_
A.3 复数在物理中的运用 1";e'? ^x
附录B 矩陈及矩陈运算 l!V| T?
B.1 矩陈的定义 Z;SG <
B.2 矩陈运算 B\ >}X_\4
附录C 光的电磁理论基础 L 4*fF
C.1 振动与波 fUKdC \WL
C.2 电磁波 8;f<q u|w
C.3 麦克斯韦方程 IYg3ve`x
C.4 平面电磁波 BBE1}V!u
C.5 平面电磁波性质 RdvTtXg
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ur,"K' w
附录D 光的干涉 NG!cEo:2aa
D.1 波的叠加原理 r9a! ,^}F
D.2 杨氏干涉 u m2s^G
D.3 平板的表面干涉
)k] !u
D.4 光的空间相干性和时间相干性 q=%
C (
附录E 光的偏振 z n;Hs]G
E.1 自然光和偏振光 `m; "I
E.2 偏振光与Jones矩陈 Q*&aC|b&
E.3 偏振光的获得 ( WtE`f;Q
E.4 偏振光的检验
