现代光学薄膜技术 本书目录 4fQ<A <2/
第一篇 光学多层膜设计 >~2oQ[ n
第1章 光学薄膜特性的理论计算 rr9N(AoxW
1.1 单色平面电磁波 k${25*M!3
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 $xNZ.|al
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ?3 "lI,!0
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 +>Y2luR1
习题 }eSaF@.
第2章 光学薄膜的设计理论 #sN]6
2.1 矢量作图法 _-^a8F>/19
2.2 有效界面法 -=@d2LY
2.3 对称膜系的等效层 =`99ez+y
2.4 导纳图解技术 ;MR8E9
习题 `l'z#\
第3章 光学薄膜系统的设计 z'j4^Xz?%$
3.1 减反射膜 N-y[2]J90
3.2 分束镜 9 J $N5
3.3 高反射膜 sA#}0>`3S
3.4 干涉截止滤光片 <0T|RhbY
3.5 带通滤光片 u {o3
3.6 特殊膜系 ;y/&p d+
习题 2V:`':
参考文献 #;z;8q
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 $mgW|TBXCQ
第4章 薄膜制备技术 GO2 mccIB
4.1 真空淀积工艺 58V`I5_
4.2 光学薄膜材料 +<a-;e{
4.3 薄膜厚度监控艺术 pE,2pT2>
4.4 膜层厚度的均匀性
kc-=5l
习题 #p*D.We
参考文献 [0qe ?aI
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Q V)>+6\
5.1 薄膜的形成过程 _ Dr9 w&;<
5.2 薄膜的微观结构 u5;;s@{Ye4
5.3 薄膜的成分 ;G.5.q[A
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 ^CO{86 V
5.5 薄膜微观结构和改善 J}BN}|Y@2
习题 E2 K{9 @i
参考文献 ;-#2p^
第三篇 光学薄膜检测技术 -M5vh~Tp
第6章 薄膜透射率和反射率测量 / W9(}Id6
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 {7'Wi $^F
6.2 薄膜反射率的测试 ;x%" o[[>
6.3 薄膜反射率的测量 /#jH #f[
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 0$ JH5RC
6.5 总结 `,QcOkvb C
习题 KW-GVe%8f
参考文献 |W_;L 6)
第7章 薄膜的吸收和散射测量 2,aH1Xbex
7.1 激光量热计基本原理 ~I6 N6T Z
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 t xE=AOY5
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 DK)T2{:
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 17$'r^t,S
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ,2YZ B*6h{
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 7 6H>ST@G|
7.7 总结 f7Y BhF
习题 v Md3#@
参考文献 50_[n$tqE
第8章 薄膜光学常数的测量 >3ax `8
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 Xii>?sA5Z"
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 "i#aII+T
8.3 薄膜波导法 0civXZgj
8.4 光学薄膜厚度的测试 \?Sv O
8.5 总结 <qg4Rz\c]
习题 TZ *>MySiF
参考文献 vd?Bk_d9k,
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 ?4A/?Z]ub
9.1 薄膜的力学特性检测技术 w 5 yOSz
9.2 薄膜器件的环境试验 %UA F~2]g
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 m g,1*B'
9.4 总结 i.k7qclL`
习题 b7XB l
参考文献 o]E L=j
附录 k&2=-qgVR
附录A 复数与复数运算 JIhEkY
A.1 复数的概念 ]{ oZn5F
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 ~)^'5^
A.3 复数在物理中的运用 5r`rstV
附录B 矩陈及矩陈运算 SE'!j ]6jI
B.1 矩陈的定义 `^52I kM)
B.2 矩陈运算 f WZ(
附录C 光的电磁理论基础 R&9FdM3K`:
C.1 振动与波 Z:dp /M}
C.2 电磁波 v\GVy[Qyv
C.3 麦克斯韦方程 8l_M 0F ,
C.4 平面电磁波 vf c:ok 1
C.5 平面电磁波性质 &\1 n=y
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 rUpe ;c
附录D 光的干涉 y{S8?$dU$:
D.1 波的叠加原理 "$XX4w
M
D.2 杨氏干涉 RWc<CQcL"
D.3 平板的表面干涉 -QroT`gy
D.4 光的空间相干性和时间相干性 xNz Gp5H
附录E 光的偏振 7i*eKC`ZqK
E.1 自然光和偏振光 @^A5{qQ\
E.2 偏振光与Jones矩陈 /M_$4O;*@
E.3 偏振光的获得 =}vT>b
E.4 偏振光的检验
