现代光学薄膜技术 本书目录 cEN^H
第一篇 光学多层膜设计 ~!uK;hI
第1章 光学薄膜特性的理论计算 >!wwXhH(
1.1 单色平面电磁波 1k7E[G~G|
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 $pD^O!I)?
1.3 光学薄膜特性的理论计算 z6Hl+nq B
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 ; CC[>
习题 F
|GWYw'%
第2章 光学薄膜的设计理论 ]l\J"*"aB
2.1 矢量作图法 +uH1rF_&@
2.2 有效界面法 g,1\Gj%y
2.3 对称膜系的等效层 <;Xj4
J
2.4 导纳图解技术 oo qNPLa
习题 vbWX`skU
第3章 光学薄膜系统的设计 >sP;B5S
3.1 减反射膜 Z 2ZS5a
3.2 分束镜 `zvYuKQ.}
3.3 高反射膜
xE}q(.]
3.4 干涉截止滤光片 +Gjy%JFp
3.5 带通滤光片 ](O!6_'d
3.6 特殊膜系 }X`K3sk2/z
习题 7+z%O3k'I
参考文献 m3,v&Z
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 +[>m`X Tq
第4章 薄膜制备技术 Axcm~ !uf
4.1 真空淀积工艺 :xA'X+d/'
4.2 光学薄膜材料 >Qi2;t~G
4.3 薄膜厚度监控艺术 'Kq%t M26!
4.4 膜层厚度的均匀性 {:" bX~<^
习题 2y N~[, L
参考文献 0 )nU[CY
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ~+1t 17
5.1 薄膜的形成过程 @-W)(9kZ|
5.2 薄膜的微观结构 m!P N1$9V
5.3 薄膜的成分 {:? -)Xq
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 @1k A%LLK
5.5 薄膜微观结构和改善 )UxF lp;\
习题 ul:jn]S*
参考文献 ;Z8K3p
第三篇 光学薄膜检测技术 !]"T`^5,Y
第6章 薄膜透射率和反射率测量 9iv!+(n i
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 k muF*0Bjk
6.2 薄膜反射率的测试 Xl} >mbB
6.3 薄膜反射率的测量 jbG #__#_
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 {?t=*l\S{w
6.5 总结 7wZKK0;T
习题 x&7!m
参考文献 1|Fukx<@J<
第7章 薄膜的吸收和散射测量 7 6hi@ 7a
7.1 激光量热计基本原理 Wx^L~[l
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 [rf.P'p%
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 k<AnTboa
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 pE`BB{[@
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 h>fY'r)DAx
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 B>JRta;hj
7.7 总结 AJj6@hi2P
习题 j]jwQRe
参考文献 aiz_6@Qfz*
第8章 薄膜光学常数的测量 b&0q%tCK
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 |J8c|h<
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 &6!x;RB
8.3 薄膜波导法 tNq~M
8.4 光学薄膜厚度的测试 2o6 %P}C
8.5 总结 >8QLo8)3C
习题 `Up3p24
参考文献 !x&/M*nBE
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 8*lV O2
9.1 薄膜的力学特性检测技术 $2\ OBc=
9.2 薄膜器件的环境试验 +$ P0&YaQ
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 hX<0{pXM4
9.4 总结 {&m^*YN/
习题 0>>tdd 7
参考文献 RtN5\
附录 xMU4Av[{
附录A 复数与复数运算 +1_NB;,e
A.1 复数的概念 wOn.m
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 7RDfhKdb
A.3 复数在物理中的运用 j^>J*gLM}W
附录B 矩陈及矩陈运算 s )\% %CM
B.1 矩陈的定义
>.0B%
B.2 矩陈运算 F!'y47QD
附录C 光的电磁理论基础 gP? pfFhG
C.1 振动与波 &h')snp:#
C.2 电磁波 +Y6=;*j$
C.3 麦克斯韦方程 TU^UR}=lP
C.4 平面电磁波 p m@Mlwg`1
C.5 平面电磁波性质 j $,:cN
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 5hg:@i',
附录D 光的干涉 8-+Ce;h
D.1 波的叠加原理 K HI-m9(
D.2 杨氏干涉 r_F\]68
D.3 平板的表面干涉 xZwG@+U=X
D.4 光的空间相干性和时间相干性 >2tYw,m
附录E 光的偏振 3* 1c CM42
E.1 自然光和偏振光 2ntL7F<ow
E.2 偏振光与Jones矩陈 UBLr|e>dQE
E.3 偏振光的获得 ^cn%]X#.
E.4 偏振光的检验
