现代光学薄膜技术 本书目录 ?8 j#gYx2
第一篇 光学多层膜设计 0+i\j`O&
第1章 光学薄膜特性的理论计算 |L@9qw F
1.1 单色平面电磁波 v(ATbY75
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 j:JM v
1.3 光学薄膜特性的理论计算 :X?bWxOJ
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 `I\)Kk@*b9
习题 \Y EV
5
第2章 光学薄膜的设计理论 < @Lw '
2.1 矢量作图法 "Yk3K^`1T.
2.2 有效界面法 &oA p[]
2.3 对称膜系的等效层 CL~21aslI
2.4 导纳图解技术 A7/
R5p
习题 z_Nw%V4kr
第3章 光学薄膜系统的设计 qkM<t?uS
3.1 减反射膜 H-*"%SJ
3.2 分束镜 uV\ _j3,2
3.3 高反射膜 3\=iB&Gf|
3.4 干涉截止滤光片 ]<V,5'xh
3.5 带通滤光片 AADvk_R
3.6 特殊膜系 %(EUZu2
习题 :HJ @/ s!J
参考文献 5M.KF;P
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 | bHId !d
第4章 薄膜制备技术 cY}Nr#%s@U
4.1 真空淀积工艺 :6, qp?/
4.2 光学薄膜材料 \Oku< 5
4.3 薄膜厚度监控艺术 :+Pl~ X"_
4.4 膜层厚度的均匀性 Ik9 2='Z
习题 ""j(wUp-W
参考文献 =, *4:TU
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 m&'z|eN
5.1 薄膜的形成过程 Qx_K )
5.2 薄膜的微观结构 ?~mw
5.3 薄膜的成分 6.%V"l
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 K?y!zy
5.5 薄膜微观结构和改善 <lx~/3<m
习题 \"E-z.wW=
参考文献 aYjFRH`
第三篇 光学薄膜检测技术 G8JwY\
第6章 薄膜透射率和反射率测量 . PzlhTL7
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 n g Z kBX
6.2 薄膜反射率的测试 [5v[Zqud
6.3 薄膜反射率的测量 2iUdTy$
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 c'9-SY1'~
6.5 总结 (Ea)`'/
习题 QU&b5!;&
参考文献 Jy,Dcl
第7章 薄膜的吸收和散射测量 Wcgy:4K3
7.1 激光量热计基本原理 H:~41f[
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 (I bT5
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 uW.)( l
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ^,Sl^ 9K
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 =xs{Ov=
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 a;Nj'M~U
7.7 总结 I|6wPV?
习题 p'2ZDd =v
参考文献 ]LvpYRU$P
第8章 薄膜光学常数的测量 ] M "l-A
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 oS b,)k@
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ; r SpM
8.3 薄膜波导法 N Fc@Kz<H
8.4 光学薄膜厚度的测试 Min^EA G@
8.5 总结 0 ] v:Ix
习题 EM_`` 0^
参考文献 -Oo7]8
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 c3\z
9.1 薄膜的力学特性检测技术 5 WR(jl+M
9.2 薄膜器件的环境试验 Pkr0| bs*
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 xh7#\m_U8
9.4 总结 =6mnXpM.
习题 >*TFM[((Y)
参考文献 T)IH4UO
附录 7Y:~'&U|
附录A 复数与复数运算 'RIlyH~Yf
A.1 复数的概念 9zj^\-FA_l
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 bDLPA2 7
A.3 复数在物理中的运用 0|0<[:(hc
附录B 矩陈及矩陈运算 0Ywqv)gg
B.1 矩陈的定义 4v+4qyMyE
B.2 矩陈运算 >Q0HqOq
附录C 光的电磁理论基础 l \= M'D
C.1 振动与波 M < 3P
C.2 电磁波 g-c\ ;
C.3 麦克斯韦方程 L< MIl[z7
C.4 平面电磁波 qTA@0fL
C.5 平面电磁波性质 fP41 B
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 *D: wwJ
附录D 光的干涉 C 0\A
D.1 波的叠加原理 aqTMOWyeu
D.2 杨氏干涉 i,=CnZCh
D.3 平板的表面干涉 ^Zh
YW
D.4 光的空间相干性和时间相干性 ,UFr??ZKm
附录E 光的偏振 pN+lC[C
E.1 自然光和偏振光 @_&@M~ u
E.2 偏振光与Jones矩陈 y//yLrs;
E.3 偏振光的获得 +jcg[|-' /
E.4 偏振光的检验
