现代光学薄膜技术 本书目录 ~o|sm a5.
第一篇 光学多层膜设计 QA;,/iw `
第1章 光学薄膜特性的理论计算 i>[xN[U(
1.1 单色平面电磁波 XTk
:lzFH
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 0*tnJB
1.3 光学薄膜特性的理论计算 |4P8N{ L>O
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 $'_Q@ZBq
习题 lo'#dpt<
第2章 光学薄膜的设计理论 b?Uk%Z]+v
2.1 矢量作图法 8-7Ml 3G*
2.2 有效界面法 3)LS#=
2.3 对称膜系的等效层 4F0w+w JD
2.4 导纳图解技术 (Cq 38~mR
习题 rP2h9Cb
第3章 光学薄膜系统的设计 W94 u7a
3.1 减反射膜 +;,J0,Yn
3.2 分束镜 K@%T5M4j
3.3 高反射膜 bma.RCyY<
3.4 干涉截止滤光片 1@ &J"*
3.5 带通滤光片 mwsBj)
3.6 特殊膜系 RMpiwO^
习题 F%&lM[N%
参考文献 @ NL<v-t
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 <T)0I1S
第4章 薄膜制备技术 E3[9!L8gb
4.1 真空淀积工艺 }` H{;A
h
4.2 光学薄膜材料 \b"|p%CL8
4.3 薄膜厚度监控艺术 ' n h2}
4.4 膜层厚度的均匀性 bpU> (j
习题 '%ZKvZ-
参考文献 zjcSn7iu
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 fQU_:[
Uz
5.1 薄膜的形成过程 )B&`<1Oie
5.2 薄膜的微观结构 0F ![<5X
5.3 薄膜的成分 9W\"A$;+&
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 r#1W$~?>
5.5 薄膜微观结构和改善 %3TioM[B
习题 ')yYpWO
参考文献 qN' 3{jiPL
第三篇 光学薄膜检测技术 / F"eqMN
第6章 薄膜透射率和反射率测量 cT@|
$A
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 .b P8Z =
6.2 薄膜反射率的测试 Fq <J xamR
6.3 薄膜反射率的测量
dZf1i FCP
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 d*04[5`
6.5 总结 _unoDoB
习题 8d8jU PFQ
参考文献 &s}sA +w
第7章 薄膜的吸收和散射测量 Uf7ACv)Dn
7.1 激光量热计基本原理 nsXG@C S :
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 8rlf 9m
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 DCLu^:|C"
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 IgwHC0 W
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ;8K> ]T)
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 )CE]s)6+2
7.7 总结 u {\>iQ
习题 3)o>sp)Ji$
参考文献 :eD-'#@$u
第8章 薄膜光学常数的测量 [N~-9
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 }|) N5bGQe
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 -Q5UT=^
8.3 薄膜波导法 ZnAQO3%y
8.4 光学薄膜厚度的测试 q27q/q8
8.5 总结 2-ksr}:
习题 Wtk|}>Pf
参考文献 Yr yMB,\
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 {: _*P
TVk
9.1 薄膜的力学特性检测技术 J"GsdL G.-
9.2 薄膜器件的环境试验 5izpQ'>
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 l qh:c
9.4 总结 '-n
Iy$>
习题 >FHx],
参考文献 j r .{M
附录 ZBx,'ph}4
附录A 复数与复数运算 iR{@~JN=)
A.1 复数的概念 zd-
*UF i
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 ;=^J _2ls
A.3 复数在物理中的运用 Z rNH:Z:5
附录B 矩陈及矩陈运算 QQ{*j7i)
B.1 矩陈的定义 $6 Hf[(/ e
B.2 矩陈运算 -$=RQH$9
附录C 光的电磁理论基础 Bfdfw +
C.1 振动与波 >c
Tt2 v
C.2 电磁波 -6s]7 #IC
C.3 麦克斯韦方程 L7GNcV]c
C.4 平面电磁波 }2*qv4},!
C.5 平面电磁波性质 " 5 FP$o R
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ^qBm%R(
附录D 光的干涉 &YD+ s%O L
D.1 波的叠加原理 \Wppl,"6c
D.2 杨氏干涉 4L`,G:J,;
D.3 平板的表面干涉 - "2 t^ Q
D.4 光的空间相干性和时间相干性 QqW N7y_9
附录E 光的偏振 CK4#ZOiaa
E.1 自然光和偏振光 > QN-K]YLL
E.2 偏振光与Jones矩陈 yV L >Ie/
E.3 偏振光的获得 d Efk~V\
E.4 偏振光的检验
