现代光学薄膜技术 本书目录 z3 zN^ZT
第一篇 光学多层膜设计 Ru1I,QvCj"
第1章 光学薄膜特性的理论计算 h` 1{tu
1.1 单色平面电磁波 Wa/&H$d\u@
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 "q-,140_
1.3 光学薄膜特性的理论计算 yUZ;keQ_Tw
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 &7gL&AY8
习题 N[(ovr
第2章 光学薄膜的设计理论 3] *_*<D
2.1 矢量作图法 N*dO'ol
2.2 有效界面法 y 093-
2.3 对称膜系的等效层 EPY64 {
2.4 导纳图解技术 8SG* 7[ T7
习题 K
>-)O=$s
第3章 光学薄膜系统的设计 ?< Tt1fpG
3.1 减反射膜 zsQhydTR
3.2 分束镜 _~^JRC[q
3.3 高反射膜 ka3(sctZ5
3.4 干涉截止滤光片 W~TT`%[
3.5 带通滤光片 2 g)W-M
3.6 特殊膜系 %B;e 7
UJ
习题 o0f{ePZ=
参考文献 OZHQnv Z
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 jz\ LI
第4章 薄膜制备技术 E"E Bj7<s
4.1 真空淀积工艺 ~y#jq,i/
4.2 光学薄膜材料 B{:JD^V!
4.3 薄膜厚度监控艺术 =h`yc$
A(2
4.4 膜层厚度的均匀性 j 'z}m+_?
习题 D"5u N0Z
参考文献 ]yTMWIx#
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 ql|ksios
5.1 薄膜的形成过程 F<KUVe
5.2 薄膜的微观结构 9M$=X-
5.3 薄膜的成分 NAy3Zd}
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 :d&^// 9
5.5 薄膜微观结构和改善 ]5!}S-uJq
习题 L5E|1T
参考文献 LD'eq\vO
第三篇 光学薄膜检测技术 o6 FSSKM
第6章 薄膜透射率和反射率测量 kfod[* 3
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 mOLP77(o
6.2 薄膜反射率的测试 H;QE',a9+i
6.3 薄膜反射率的测量 &&N]u e@>
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 R'#[}s
6.5 总结 _x.!,
g{
习题 ur'a{BI 2R
参考文献 )PM&x
第7章 薄膜的吸收和散射测量 \'rh7!v-u
7.1 激光量热计基本原理 IX!Q X
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 EF7Y 4lp
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 (6xrs_ea
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 U! GG8;4
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 ]F,mj-?4x
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 ^%^~: <N
7.7 总结 }CR@XD}[
习题 CS:"F) at
参考文献 Kr$ w"]
第8章 薄膜光学常数的测量 MKad
5gD*<
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 RCFocOOn
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 BE54^U
8.3 薄膜波导法 +Om(&\c(6
8.4 光学薄膜厚度的测试 yu3T5@Ww
8.5 总结 L'1p]Z"
习题 aY^_+&&G
参考文献 4M)
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第9章 薄膜非光学特性的检测技术 :hre|$@{a
9.1 薄膜的力学特性检测技术 X 8TwMt
9.2 薄膜器件的环境试验 7XE |5G
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 Q:.q*I!D<4
9.4 总结 +?xW%omy
习题 & E@8 z&
参考文献 ZDVz+L|p
附录 F`l r5
附录A 复数与复数运算 )qGw!^8
A.1 复数的概念 Ppw0vaJ^
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 R %QgOz3`
A.3 复数在物理中的运用 MGH(= w1
附录B 矩陈及矩陈运算 , _K /e
B.1 矩陈的定义 95.m^~5
B.2 矩陈运算 G(LGa2;Zg
附录C 光的电磁理论基础 /{eD##vhP
C.1 振动与波 O|t@p=]
C.2 电磁波 JLS|G?#0
C.3 麦克斯韦方程 SxC
C.4 平面电磁波 7*bUy)UZ
C.5 平面电磁波性质 /D]?+< h1
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 3},0b8};
附录D 光的干涉 y{>d&M|
D.1 波的叠加原理
y.$/ni Q%
D.2 杨氏干涉 }O_kbPNw
D.3 平板的表面干涉 xPFNH`O&
D.4 光的空间相干性和时间相干性 3I87|5V,Z
附录E 光的偏振 ]>E)0<t
E.1 自然光和偏振光 &5 ]&6TD6
E.2 偏振光与Jones矩陈 Te%2(w,B
E.3 偏振光的获得 J{W <6AK\S
E.4 偏振光的检验
