现代光学薄膜技术 本书目录 /*,hR >UG
第一篇 光学多层膜设计 !I3_KuJ5
第1章 光学薄膜特性的理论计算 w'uI~t4
1.1 单色平面电磁波 w=]id'`?q
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 eAvOT$
1.3 光学薄膜特性的理论计算 C9+`sFau@
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 H\W/;N n
习题 LRe2wT>I
第2章 光学薄膜的设计理论 Q#+y}pOLP
2.1 矢量作图法 0|mF
/
2.2 有效界面法 dw6U}
2.3 对称膜系的等效层 lN@SfM4 \
2.4 导纳图解技术 ZcT%H*Ib]9
习题 7Q_AZR 4
第3章 光学薄膜系统的设计 rK^Sn7 U
3.1 减反射膜 /F/zMZGSA{
3.2 分束镜 T4H/D^X|
3.3 高反射膜 T&@xgj|!)
3.4 干涉截止滤光片 j A/xe
3.5 带通滤光片 =}SH*xi6
3.6 特殊膜系 Z1@E
习题 `R\aNgCS}
参考文献 {[Bo"a>%
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 }r%S i
第4章 薄膜制备技术 h?cf)L
4.1 真空淀积工艺 /3( a'o[
4.2 光学薄膜材料 ~96fyk|
4.3 薄膜厚度监控艺术 ey icMy`7{
4.4 膜层厚度的均匀性 /HlLf W
习题 ?<_yW# x6
参考文献 f8Z[prfP
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 {\HEUIa]w
5.1 薄膜的形成过程 2>bTcud>
5.2 薄膜的微观结构 fgzk c"ReK
5.3 薄膜的成分 . \/jy]Y
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 vUlG E
5.5 薄膜微观结构和改善 $>Y 2N5
习题 gG^A6Ol%D
参考文献 jY: )W*TXt
第三篇 光学薄膜检测技术 6R.% I{x'
第6章 薄膜透射率和反射率测量 ]f %yeD
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 $ NNd4d*
6.2 薄膜反射率的测试 cM'\u~m{
6.3 薄膜反射率的测量 b#h }g>l
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 zk#NM"C+
6.5 总结 D's Tv}P
习题 YU*u!
参考文献 G&eRhif
第7章 薄膜的吸收和散射测量 )9oF?l^q
7.1 激光量热计基本原理 ?p&CR[
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 ](^$5 Am
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 yJyovfJz.
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 Jf#Ika&px
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 !c 3c%=W
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 {Kbb4%P+h
7.7 总结 T/m4jf2
习题 3I}(as{Rp
参考文献 mNc?`G_R
第8章 薄膜光学常数的测量 pJnT \~o
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 TnuNoMD.
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 C'Gj\
8.3 薄膜波导法 .dbZ;`s
8.4 光学薄膜厚度的测试 D'F j"&LK
8.5 总结 O)2==_f\
习题 D7X8yv1
参考文献 s *8)|N
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 "UNWbsn6Qr
9.1 薄膜的力学特性检测技术 HITw{RPrW
9.2 薄膜器件的环境试验 Q sXy(w# F
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 -l:4I6-hi
9.4 总结 *6C ]CS
习题 Fj_6jsDb
参考文献 Qs O%m
附录 y }\d]*5
附录A 复数与复数运算 yF [|dB
A.1 复数的概念 }|KNw*h $
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Ml"i^ LR+
A.3 复数在物理中的运用 <~d3L4h*<
附录B 矩陈及矩陈运算 yA+ NRWWj
B.1 矩陈的定义 > TKl`O
B.2 矩陈运算 [|5gw3 y
附录C 光的电磁理论基础 cs-wqxTX[$
C.1 振动与波 UPE9e
C.2 电磁波 s%6{X48vY^
C.3 麦克斯韦方程 iNlY\67sW
C.4 平面电磁波 =%i~HDiy
C.5 平面电磁波性质 (yr<B_Y'MY
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 \dx$G?R
附录D 光的干涉 /QgU!:e
D.1 波的叠加原理 w%3*T#tp
D.2 杨氏干涉 V ZhHO
d
D.3 平板的表面干涉 7NFRCCXHQ
D.4 光的空间相干性和时间相干性 ?z[k.l+6w
附录E 光的偏振 #M)S Ae2
E.1 自然光和偏振光 )j_Y9`R
E.2 偏振光与Jones矩陈 8kRqF?rb j
E.3 偏振光的获得 q{ c/TRp7
E.4 偏振光的检验
