现代光学薄膜技术 本书目录 Pl:4`oY3
第一篇 光学多层膜设计 zX_F+"]THt
第1章 光学薄膜特性的理论计算 spfW)v/T!
1.1 单色平面电磁波 Ow/,pC >V
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射
^^"zjl*^
1.3 光学薄膜特性的理论计算 6
H P 66B
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 (NLw#)?
习题 `&D#P%
第2章 光学薄膜的设计理论 r89A X{:
2.1 矢量作图法 @\ y{q;
2.2 有效界面法
U=~?ca
2.3 对称膜系的等效层 @FN|=?8%
2.4 导纳图解技术 n> , :*5"G
习题 k5Cy/gR
第3章 光学薄膜系统的设计 (& SU)Uvu
3.1 减反射膜 ^H.B6h?
3.2 分束镜 7(+4 ^
3.3 高反射膜 &RZ O\ZT
3.4 干涉截止滤光片 OK80-/8HI
3.5 带通滤光片 x;7l>uR
3.6 特殊膜系 N F8<9
习题 O.B9 w+G=
参考文献 )ovAG O
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 $~b6H]"9
第4章 薄膜制备技术 JI .=y5I
4.1 真空淀积工艺
b M1\z
4.2 光学薄膜材料 61H_o7XXk
4.3 薄膜厚度监控艺术 r5~ W/eE
4.4 膜层厚度的均匀性 [L+*pW+$\.
习题 AE7 7i,Xa
参考文献 ^yPZ$Q
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 M)oKtiav*
5.1 薄膜的形成过程 l9f_NJHo
5.2 薄膜的微观结构 H\ Qk U`b
5.3 薄膜的成分 3Qe|'E,U
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 hEB5=~A_
5.5 薄膜微观结构和改善 ;-VZV p}Y
习题 <rE>?zvm
参考文献 #Q!X z2z2
第三篇 光学薄膜检测技术 > mO*.' Gm
第6章 薄膜透射率和反射率测量 BEaF-*?A
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 d MR?pbD
6.2 薄膜反射率的测试 I*N"_uKU
6.3 薄膜反射率的测量 !0@4*>n
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 FB?~:7+'
6.5 总结 MG vz-E1e
习题 i1uoYb?4(I
参考文献 xw9ZRu< z
第7章 薄膜的吸收和散射测量 ,5$G0
7.1 激光量热计基本原理 U}jGr=tu
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 9\.0v{&v
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 T ]w I)
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 j_2g*lQ7a
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 )oCL![^pXe
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 l4 8$8Mgrr
7.7 总结 h]s6)tI I
习题 gw"c Xny
参考文献 OY{fxB b
第8章 薄膜光学常数的测量 vm|u~Yd,s
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 k";dK*hD,
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 iKaX8c,zI
8.3 薄膜波导法 ch8VJ^%Ra1
8.4 光学薄膜厚度的测试 ,pD sU @
8.5 总结 0FcDO5 ia
习题 = "$w8iRU
参考文献 FXBmatBck
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 z]N#.utQ
9.1 薄膜的力学特性检测技术 lt uV2.$
9.2 薄膜器件的环境试验 @
3=pFYW)
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 dnLjcHFj&
9.4 总结 }oZ8esZU2
习题 VkJ">0k
参考文献 ^}~Q(ji7
附录 4N, [Gs<7
附录A 复数与复数运算 |/K| Vwa
A.1 复数的概念 o>M^&)Xs
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 W~mo*EJ'^
A.3 复数在物理中的运用 G{: B'08
附录B 矩陈及矩陈运算 r7W.}n *
B.1 矩陈的定义 @;eH~3P
B.2 矩陈运算 ?Vg~7Eu0
附录C 光的电磁理论基础 dQIF '== 6
C.1 振动与波 zY\u"
'4
C.2 电磁波 :Ob4WU
C.3 麦克斯韦方程 6ZI Pe~`
C.4 平面电磁波 Hj K8y@j
C.5 平面电磁波性质 d\ #yWY
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 ouCh2Y/_
附录D 光的干涉 `
1+*-g^r
D.1 波的叠加原理 W\Pd:t
D.2 杨氏干涉 N-2#-poDe
D.3 平板的表面干涉 lx2#C9L_
D.4 光的空间相干性和时间相干性 CCG 5:xS
附录E 光的偏振 M%_*vD
E.1 自然光和偏振光 &C
MBTY#u
E.2 偏振光与Jones矩陈 ,5zY1C==Ut
E.3 偏振光的获得 B`QF;,3S
E.4 偏振光的检验
