现代光学薄膜技术 本书目录 W-9^Ncp
第一篇 光学多层膜设计 DN)Ehd.
第1章 光学薄膜特性的理论计算 N>?R,XM
V
1.1 单色平面电磁波 |7Z7_YWs
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 (P
{o 9
1.3 光学薄膜特性的理论计算 -=aI!7 *"$
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 {64od0:T
习题 9V*h:[6a(
第2章 光学薄膜的设计理论 ; ]GSVv:
2.1 矢量作图法 n5i#GvO^
2.2 有效界面法 OHixOI$O
2.3 对称膜系的等效层 A+d&aE }3V
2.4 导纳图解技术 eIjn~2^
习题 b&s "/Y89
第3章 光学薄膜系统的设计 qSh^|;2?R
3.1 减反射膜 $
BV4 i$
3.2 分束镜 S Xn\k;F<
3.3 高反射膜 d4h1#MK
3.4 干涉截止滤光片 k
9 Xi|Yj
3.5 带通滤光片 J1kG'cH05
3.6 特殊膜系 :4]^PB@dl
习题 HMT^g mF)
参考文献 3 *9<JHu
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 OM, -:H,
第4章 薄膜制备技术 D6
B(6
5Y
4.1 真空淀积工艺 }Z5#{Sd
4.2 光学薄膜材料 0U'g2F>{
4.3 薄膜厚度监控艺术 c`
^I% i
4.4 膜层厚度的均匀性 ndEW$? W,
习题 ;C,D1_20Z
参考文献 SS; [{u !
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 K@u\^6419
5.1 薄膜的形成过程 dx{ ZG'@aH
5.2 薄膜的微观结构 :=u Ku'~
5.3 薄膜的成分 Y@'ug N|[C
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 N0EJHS,>e
5.5 薄膜微观结构和改善 |V#h
"s
习题 bgs2~50
参考文献 CCp&P5[67
第三篇 光学薄膜检测技术 J0@
^h
第6章 薄膜透射率和反射率测量 _&s 37A&\
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 b= <xzvy
6.2 薄膜反射率的测试 (orO=gST-/
6.3 薄膜反射率的测量 ,g Hgb
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 FFGG6r
6.5 总结 4O Lq
习题 qE73M5L&
参考文献 H2oAek(
第7章 薄膜的吸收和散射测量 n DLr17
7.1 激光量热计基本原理 =bm<>h 7.)
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 }{<@wE%s
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 6X{RcX]/
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 m:@-]U@ 6
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 r9@4-U7v&
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 f(Jz*el
S
7.7 总结 Y/Yp+W6n
习题 z Q tg]@S
参考文献 -'
7I | r
第8章 薄膜光学常数的测量 > D:( HWL
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 ?ysC7 ((
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 _B4H"2}[Y
8.3 薄膜波导法 NbyVBl0=
8.4 光学薄膜厚度的测试 Vm
NC knG
8.5 总结 G5~ Jp#uA
习题 X .V6v4
参考文献 Aa^%_5
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 @ %L rpD
9.1 薄膜的力学特性检测技术
)L}6to
9.2 薄膜器件的环境试验 &_cMbFLBP
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 Ar@"
K!TS
9.4 总结 f g1_D
习题 (h;4 irfX
参考文献 -A}U^-'a}
附录 #P8R
附录A 复数与复数运算 Ph(bgQg
A.1 复数的概念 +[$d9
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 uzA"+cV5
A.3 复数在物理中的运用 \OMWE/qMy
附录B 矩陈及矩陈运算 FF]xwptrx
B.1 矩陈的定义 A 8bDg:G1i
B.2 矩陈运算 IyvJwrO
附录C 光的电磁理论基础 l*;Isz:
C.1 振动与波 FSnF>3kj-
C.2 电磁波 7;H!F!K]
C.3 麦克斯韦方程 Nrp0z:
C.4 平面电磁波 RtZK2
C.5 平面电磁波性质 ~4HS
2\
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 dq$H^BB+>
附录D 光的干涉 oZ% rzLH
D.1 波的叠加原理 +AVYypql8K
D.2 杨氏干涉 {ir8n731p
D.3 平板的表面干涉 ,r<!30~f
D.4 光的空间相干性和时间相干性 KrwG><+j
附录E 光的偏振 59e q"08
E.1 自然光和偏振光 )@"iWQ 3K
E.2 偏振光与Jones矩陈 ^_dYE]t
E.3 偏振光的获得 q.]>uBAQ?
E.4 偏振光的检验
