现代光学薄膜技术 本书目录 ~Q5HM
第一篇 光学多层膜设计 ?uQ pt(
第1章 光学薄膜特性的理论计算 GmFNL/x8-v
1.1 单色平面电磁波 r.[k D"l
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 ?~"RCZ[;.f
1.3 光学薄膜特性的理论计算 ~7|z 2L
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 ~ p &sd)
习题 3 }XS| Y
第2章 光学薄膜的设计理论 *" wsMO
2.1 矢量作图法 %0 S0"t
2.2 有效界面法 iM-@?!WF
2.3 对称膜系的等效层 HU H=Y;
2.4 导纳图解技术 }/=_
习题 i{.!1i:
第3章 光学薄膜系统的设计 G"]'`2.m
3.1 减反射膜 :|bPr_&U$
3.2 分束镜 gU:jx
3.3 高反射膜 SyI#Q[f'_
3.4 干涉截止滤光片 o 0B`~7(
3.5 带通滤光片 zrcSPh
3.6 特殊膜系 6v-h!1p{u
习题 [1Rs~T"
参考文献 tG'c79D \
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 2]|+.9B
第4章 薄膜制备技术 k 2~j:&p
4.1 真空淀积工艺 iVE+c"c!2&
4.2 光学薄膜材料 +NQw ^!0qy
4.3 薄膜厚度监控艺术 rR xqV?>n!
4.4 膜层厚度的均匀性 ,xGkE 7=5
习题 ?(Nls.c
参考文献 /) N[tv2
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 >5\rU[H>
5.1 薄膜的形成过程 .M04n \
5.2 薄膜的微观结构 ne%ckW?ks
5.3 薄膜的成分 ffd yDUzQ
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 ~e|~c<!z8@
5.5 薄膜微观结构和改善 gqE{
习题 N7XRk = J
参考文献 4q2aVm
第三篇 光学薄膜检测技术 krgs mDi7
第6章 薄膜透射率和反射率测量 vb# d%1b5
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 l&zd7BM9(
6.2 薄膜反射率的测试 a !;?!f-i
6.3 薄膜反射率的测量 WlU5`NJl]2
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 <S<(wFE@4
6.5 总结 ."dmL=
习题 y 2bZo'Z
参考文献 DE In:d
第7章 薄膜的吸收和散射测量 f5AK@]4G
7.1 激光量热计基本原理 )]'?yS"
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 (V*ggii@
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 tR1
kn&w
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 H 13|bM<
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 Wcbb3N$+
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 fn)c&|aCt
7.7 总结 m 8.sH w
习题 ^J?I-LG
参考文献 M%Ov6u<I8
第8章 薄膜光学常数的测量 c8A
//
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 q m2
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 uk16
8.3 薄膜波导法 VHJOj
8.4 光学薄膜厚度的测试 g9g^zd,
8.5 总结 ,JX/` 7y
习题 VB\oK\F5z
参考文献 T0i_X (_
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 kP3'BBd,
9.1 薄膜的力学特性检测技术 U]O 7RH
9.2 薄膜器件的环境试验 Dr z#D1-2
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 y8VLFe;
9.4 总结 d
n3sh<
习题 L "9,K8
参考文献 !>+YEZ"
附录 ?J|~ G{yH
附录A 复数与复数运算 p \1-.
A.1 复数的概念 .>_p7= a
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 {'T=&`&OF
A.3 复数在物理中的运用 b+,u_$@B
附录B 矩陈及矩陈运算 d
H]'&&M
B.1 矩陈的定义 "*a^_tsT?i
B.2 矩陈运算 <GT&q <4w
附录C 光的电磁理论基础 SnRk` 5t
C.1 振动与波 VU 9w2/cM
C.2 电磁波 s%GhjWZS
C.3 麦克斯韦方程 CNQ >J`4
C.4 平面电磁波 3+rud9T
C.5 平面电磁波性质 6"b =aPTi
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 0& 54xP
附录D 光的干涉 1)U%p
D.1 波的叠加原理 *%bQ p
D.2 杨氏干涉 /Ii a >XY
D.3 平板的表面干涉 *H8(G% a!^
D.4 光的空间相干性和时间相干性 ^^1rj h1I
附录E 光的偏振 r&U 5w^p
E.1 自然光和偏振光 fo@ 2@
E.2 偏振光与Jones矩陈 {
<f]6
E.3 偏振光的获得 gq\ulLyOeZ
E.4 偏振光的检验
