现代光学薄膜技术 本书目录 ' J`%[,@V
第一篇 光学多层膜设计 An e.sS
第1章 光学薄膜特性的理论计算 FFNv'\)
1.1 单色平面电磁波 rtz%(4aS
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 {]}}rx'|P
1.3 光学薄膜特性的理论计算 J8x>vC
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 sGCV um}
习题 <, Zk9 t&
第2章 光学薄膜的设计理论 `~"l a>}
2.1 矢量作图法 j/R
2.2 有效界面法 UEJX0=
2.3 对称膜系的等效层 PQ2u R
2.4 导纳图解技术 dfo{ B/+
习题 ;!k1LfN
第3章 光学薄膜系统的设计 uL!{xuN
3.1 减反射膜 :LL>C)(f
3.2 分束镜 ^ 6~CA
3.3 高反射膜 ^AUmIyf_
3.4 干涉截止滤光片 m(Cn'@i`"0
3.5 带通滤光片 dOFxzk,g&R
3.6 特殊膜系 K@6tI~un
习题 XY5I5H_U
参考文献 bQ=R,
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 :G|Jcl=r
第4章 薄膜制备技术 Nd&u*& S
4.1 真空淀积工艺 u8*Uia*vwH
4.2 光学薄膜材料 ( d[)U<
4.3 薄膜厚度监控艺术 pbivddi2
4.4 膜层厚度的均匀性 h{]l?6`
习题 AO9F.A<T5
参考文献 i8nC TW
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 %/H
5.1 薄膜的形成过程 HzM^Zn57%
5.2 薄膜的微观结构 w*ig[{
I
5.3 薄膜的成分 5w`v
3o
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 h]<Ld9
5.5 薄膜微观结构和改善 p3*}! ez4
习题 !9i,V{$c`"
参考文献 c8gdY`
第三篇 光学薄膜检测技术 3_IuK 6K2
第6章 薄膜透射率和反射率测量 i` Es7 }
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 v"L<{HN
6.2 薄膜反射率的测试 }abM:O
"Y
6.3 薄膜反射率的测量 ~?dPF;. 6_
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 _.Y?BAQ
6.5 总结 +GWeu0b(~
习题 @7%nMTZ@&v
参考文献 POc<
G^
第7章 薄膜的吸收和散射测量 Gu&?Gn oc
7.1 激光量热计基本原理 I`2hxLwh+
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 gQ *0 Mk
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 u(SdjLf:
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 u( ?
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法
8J%^gy>m]
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 1P4jdp=~
7.7 总结 V2%FWo|
习题 :t]YPt
参考文献 AF l]w'=
第8章 薄膜光学常数的测量 QdG_zK>|e
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 AMvM H
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 (hVhzw "~
8.3 薄膜波导法 \<~[uv '
8.4 光学薄膜厚度的测试 Ud:v 3"1
8.5 总结 APuG8
<R,
习题 8(D>ws$
参考文献 \Bt v76*,
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 eQno]$-\
9.1 薄膜的力学特性检测技术 kVQKP U
9.2 薄膜器件的环境试验 ;]MHU/
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 ,~gY'Ql
9.4 总结 `R fhxzI
习题 z:|4S@9
参考文献 ;&P%A<[`
附录 /_?Ly$>'
附录A 复数与复数运算 nvxftbfE^D
A.1 复数的概念 N/Z3 EF_
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 p}!rPd*
A.3 复数在物理中的运用 x9~d_>'A
附录B 矩陈及矩陈运算 v-X1if1 %
B.1 矩陈的定义 |~W!Y\l-
B.2 矩陈运算 Nj qUUk c
附录C 光的电磁理论基础 *\I?gDON
C.1 振动与波 ! SD?
C.2 电磁波 "Q#/J )N
C.3 麦克斯韦方程 <Jo_f&&{
C.4 平面电磁波 v$w!hYsQ
C.5 平面电磁波性质 H6x~mZu_:T
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 )wo'i]#2:
附录D 光的干涉 b|wCR%
D.1 波的叠加原理 f$NudG!S
D.2 杨氏干涉 sE-E\+
D.3 平板的表面干涉 <u*~RYA2
D.4 光的空间相干性和时间相干性 V(A6>0s$|
附录E 光的偏振 %: N6#;l M
E.1 自然光和偏振光 x;l\#x/<
E.2 偏振光与Jones矩陈 y|nMCkuX
E.3 偏振光的获得 1[a;2x A~
E.4 偏振光的检验
