现代光学薄膜技术 本书目录
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第一篇 光学多层膜设计 v%E!
第1章 光学薄膜特性的理论计算 h$ $i@IO0
1.1 单色平面电磁波 Dq*O8* #*
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 n55s7wzM
1.3 光学薄膜特性的理论计算 Q\2~^w1V
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 qtS+01o
习题 /nNrvMt v
第2章 光学薄膜的设计理论 N8 m3 Wy
2.1 矢量作图法 g+KuK`\N%
2.2 有效界面法 9aY}+hgb#
2.3 对称膜系的等效层 ?]58{O(?c
2.4 导纳图解技术 Twk,R. O
习题 L#u!T)!zW
第3章 光学薄膜系统的设计 %9T|"\
3.1 减反射膜 ?T8^tGD[
3.2 分束镜 | 6Qn/N$+f
3.3 高反射膜 U)qG]RI
3.4 干涉截止滤光片 ;:w0%>X^
3.5 带通滤光片 CVGQ<, KVW
3.6 特殊膜系 e >b|13X
习题 F{
sPQf'
参考文献 Iv>4o~t
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 W 7q! F
第4章 薄膜制备技术 $1bzsB|^
4.1 真空淀积工艺 5_Oxl 6#
4.2 光学薄膜材料 }(w9[(K
4.3 薄膜厚度监控艺术 V7,;N@FL
4.4 膜层厚度的均匀性 Xm~N Bt
习题 sN@=Ri?\
参考文献 3TNj*jo
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 h`V#)Q
5.1 薄膜的形成过程 j> |mpfU
5.2 薄膜的微观结构 HH7Bg0=(
5.3 薄膜的成分 M}N[> ,2'
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 T1YbF/M'
5.5 薄膜微观结构和改善 )'axJ
习题 ^wb$wtL('
参考文献 k\}\>&Zqu
第三篇 光学薄膜检测技术 aQL$?,
第6章 薄膜透射率和反射率测量 =.t 3|5U8
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 pLs Wy&G
6.2 薄膜反射率的测试 [Qn$i/ ` J
6.3 薄膜反射率的测量 Y dh+iLjhx
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 h0zv @,u
6.5 总结 ]Jx_bs ~g
习题 M I R))j;
参考文献 kZ<"hsh,Y'
第7章 薄膜的吸收和散射测量 1p
COLC%1
7.1 激光量热计基本原理 l]Q<BV
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 Kb*X2#;*
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 Ag0)> PD^
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 )~ghb"K
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 .v_-V?7
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 75*q^ui
7.7 总结 QK(w2`
习题 Ec l/2
参考文献 \EQCR[7qu7
第8章 薄膜光学常数的测量 Y]: Ch (Q
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 Q <2 `ek
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 b'
fcWp0
8.3 薄膜波导法 Vae=Yg=fw
8.4 光学薄膜厚度的测试 [F}_Ime
8.5 总结 p [7?0 (
习题 {9<c*0l
参考文献 Xx
e07J~
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 dNT<![X\
9.1 薄膜的力学特性检测技术 bTW#
f$q:4
9.2 薄膜器件的环境试验 noQS bI
@
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 9] PMti
9.4 总结 tIL ]JB
习题 ]r(s0 2
参考文献 &W$s-qf".
附录 .[C@p`DZ
附录A 复数与复数运算 y5`$Aa4~
A.1 复数的概念 (Kb_/
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 p{oc}dWin
A.3 复数在物理中的运用 wlw`%z-B2
附录B 矩陈及矩陈运算 V~"-\@
B.1 矩陈的定义 O("13cU
B.2 矩陈运算 n1;zml:7_
附录C 光的电磁理论基础 WADA p\&
C.1 振动与波 ^H~g7&f9?N
C.2 电磁波 2d JP|T9H
C.3 麦克斯韦方程 0vrx5E!
C.4 平面电磁波 # -8%g{
C.5 平面电磁波性质 tM3Q;8gB!
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 Oe"nNvu/
附录D 光的干涉 Ln"D .gpq
D.1 波的叠加原理 W>y &
D.2 杨氏干涉 Rh#QPYPq
D.3 平板的表面干涉 ;U]Ym48
D.4 光的空间相干性和时间相干性 W *^_Ul|
附录E 光的偏振 D2 X~tl5<
E.1 自然光和偏振光 K 2!GpGZu
E.2 偏振光与Jones矩陈 yGvBQ2kYb
E.3 偏振光的获得 Df.eb|[{
E.4 偏振光的检验
