现代光学薄膜技术 本书目录 Y/I6.K3
第一篇 光学多层膜设计 :mHtK)z~
第1章 光学薄膜特性的理论计算 M4PUJZ]
1.1 单色平面电磁波 =]mx"0i[
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Y_YIJ@
1.3 光学薄膜特性的理论计算 /{)cI^ 9
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 w=>m G-
习题 [jn;|
3
第2章 光学薄膜的设计理论 29DWRJU
2.1 矢量作图法 X',0MBQ0
2.2 有效界面法 M{RZ-)IC
2.3 对称膜系的等效层 O!+5As
2.4 导纳图解技术 exKmK!FT
习题 FAl 6
第3章 光学薄膜系统的设计 __%E!*m"<_
3.1 减反射膜 3s$.l }
3.2 分束镜 ^b.
MR ?9
3.3 高反射膜 Ui;s.f
3.4 干涉截止滤光片 . TS=[WGMS
3.5 带通滤光片 ]+7c1M B(5
3.6 特殊膜系 zFQkUgb
习题 ;@s~t:u
参考文献 !T(Omve)
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ;!sGfrs 0$
第4章 薄膜制备技术 vs5wx TM
4.1 真空淀积工艺 [mvHa;-w
4.2 光学薄膜材料 =_6h{f&Q
4.3 薄膜厚度监控艺术 Lbkn Sy C
4.4 膜层厚度的均匀性 PzkXrDlB7
习题 3(p6ak2lv
参考文献 eakIK+-21y
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 4ux5G`oL
5.1 薄膜的形成过程 }Cg~::,"
5.2 薄膜的微观结构 Mw k_S Cy
5.3 薄膜的成分 ^C| 9K>M
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 ;>Qd )'
5.5 薄膜微观结构和改善 UH|.@7w
习题 (.+n1)L ?
参考文献 'PbA/MN
第三篇 光学薄膜检测技术 Ls*=mh~IY
第6章 薄膜透射率和反射率测量 +N_%|!F-c
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 H;&t"Ql.
6.2 薄膜反射率的测试 e1Hx"7ew_
6.3 薄膜反射率的测量 U8z"{
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 83*k.]S`
6.5 总结 1]`HX=cl
习题 R tL'fd
参考文献 *4y r7~S5
第7章 薄膜的吸收和散射测量 Jj:4@p:
7.1 激光量热计基本原理 j-|0&X 1C
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 XS/TYdXB8
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 Ij_`=w<
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 v}D!
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 J< M;vB)
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 [G/X
7.7 总结 2jC\yY |PN
习题 {NDP}UATw
参考文献 "Fiv
]^
第8章 薄膜光学常数的测量 rd{( E
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 s&</zU'
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 `_i-BdW
8.3 薄膜波导法 jp`N%O]6
8.4 光学薄膜厚度的测试 ;v\n[
8.5 总结 XU7bWa fy
习题 JK`P
mp>
参考文献 p.|;
k%c7
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 XQ8Imkc
9.1 薄膜的力学特性检测技术 hg @Jpg
9.2 薄膜器件的环境试验 (6{
VMQ
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 B" v=Fr[
9.4 总结 sTz *tSwQv
习题 3>6o=7/PU
参考文献 - C+vmY*@
附录 kz^G.5n
附录A 复数与复数运算 T\>=o]
A.1 复数的概念 }o4Cd$,8
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 yNL71 >w4
A.3 复数在物理中的运用 <9 ~qAq7^
附录B 矩陈及矩陈运算 ]'q<wPi
B.1 矩陈的定义 rpmDr7G
B.2 矩陈运算 Apn#o2
附录C 光的电磁理论基础 9@06]EI_
C.1 振动与波 G
w[&P%
C.2 电磁波 i_"I"5pBF
C.3 麦克斯韦方程 n C^'2z
C.4 平面电磁波 xo$ZPnf(zv
C.5 平面电磁波性质 "6i9 f$N
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 TfPx
附录D 光的干涉 %`'VXR?`h=
D.1 波的叠加原理 &bRH(yF
D.2 杨氏干涉 %}[??R0
D.3 平板的表面干涉 l ;uEw
D.4 光的空间相干性和时间相干性 5z _)
附录E 光的偏振 z0sB*5VH
E.1 自然光和偏振光 A?/?9Gr
E.2 偏振光与Jones矩陈 ! bp"pa 9
E.3 偏振光的获得 v |GvN|_|
E.4 偏振光的检验
