现代光学薄膜技术 本书目录 {^v50d
第一篇 光学多层膜设计 g6S8@b))|
第1章 光学薄膜特性的理论计算 3e"G.0vJ
1.1 单色平面电磁波 Vs(;al'
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 /<5/gV 1Q
1.3 光学薄膜特性的理论计算 uA JC Q)@
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 `S2= LJ
习题 'RhMzPmY>
第2章 光学薄膜的设计理论 }x+{=%~N
2.1 矢量作图法 h^4 oy ^9
2.2 有效界面法 /lUb9&yV
2.3 对称膜系的等效层 [Gu]p&
2.4 导纳图解技术 0&Qn7L
习题 ) ":~`Z*@
第3章 光学薄膜系统的设计 [@(zGb8
3.1 减反射膜 WWY9U
3.2 分束镜 d M)fr
3.3 高反射膜 uE>}>6)b
3.4 干涉截止滤光片 v{I:Wxe
3.5 带通滤光片 @$aCUJ/mE
3.6 特殊膜系 6SpkeXL
习题 OLv (
参考文献 tNtP+v-{
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 =|6IyL_N
第4章 薄膜制备技术 ^+pmZw9 0
4.1 真空淀积工艺 C>LkU |[
4.2 光学薄膜材料
n1v%S"^
4.3 薄膜厚度监控艺术 y|X[NSA
4.4 膜层厚度的均匀性 4Hu .o 7
习题 #fwG~Q(
参考文献 (2S,0MHk
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 2o,%O91p
5.1 薄膜的形成过程 y- g5`@
5.2 薄膜的微观结构 1=s%.0
5.3 薄膜的成分 Qv8Z64#
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 K@h v[4
5.5 薄膜微观结构和改善 upWq=_
习题 =U?"#
参考文献 K }r%OOn0
第三篇 光学薄膜检测技术 q4VOK
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第6章 薄膜透射率和反射率测量 b
afYjF< 3
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 S\Q/ "Y
6.2 薄膜反射率的测试 o zv><e#
6.3 薄膜反射率的测量 d6_ CsqV
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 "g0L n5&
6.5 总结 DBOz<|
习题 )@Ly{cw
参考文献 z[vMO%
第7章 薄膜的吸收和散射测量 Rj-<tR{
7.1 激光量热计基本原理 :?&N/ 7
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 &K}!R$[,:P
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 BK,= (;d3
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 G<$ U cXg
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 @>JO &,od
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 poeKY[].
7.7 总结 C^.: {
习题 ]XU? Wg
参考文献 53#7Yy
第8章 薄膜光学常数的测量 'AHI;Z~Gk
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 D guAeK
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 ,xNuc$8Jd
8.3 薄膜波导法 Qu!Lc:oM?
8.4 光学薄膜厚度的测试 >l RX+?
8.5 总结 ']>@vo4kK{
习题 w R1M_&-s
参考文献 R j1Z
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 x?T/=C
9.1 薄膜的力学特性检测技术 G!@tW`HO
9.2 薄膜器件的环境试验 Wn< 3|`c
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 O n#RYy^}
9.4 总结 MJb!+E+
习题 crUt8L-B4
参考文献 e!Y:UB2
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附录 /wVrr%SN
附录A 复数与复数运算 36e !je
A.1 复数的概念 V`=#j[gX)=
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 ZEp UHdin
A.3 复数在物理中的运用 _da>=^hFJ
附录B 矩陈及矩陈运算 tGe|@.!
B.1 矩陈的定义 * 3WK`9q
B.2 矩陈运算 >#<o7]
附录C 光的电磁理论基础 #O*
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C.1 振动与波 L@XhgQ
C.2 电磁波 /X {:~*.z
C.3 麦克斯韦方程 t L}i%7
C.4 平面电磁波 T dlF~ca|
C.5 平面电磁波性质 s9?klJg
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 Tt<Ry'Z$3
附录D 光的干涉 TIYI\/a\;
D.1 波的叠加原理 wz<YflF
D.2 杨氏干涉 ojni+} >_
D.3 平板的表面干涉 ?>L sIPa
D.4 光的空间相干性和时间相干性 \E5 %.KR
附录E 光的偏振 uAwT)km
{
E.1 自然光和偏振光 F_$eu-y
E.2 偏振光与Jones矩陈 d~u+:[\=/
E.3 偏振光的获得 iZ yhj%#
E.4 偏振光的检验
