现代光学薄膜技术 本书目录 O%*:fd,o-
第一篇 光学多层膜设计 ++Fv )KY@
第1章 光学薄膜特性的理论计算 e!oL!Zg
1.1 单色平面电磁波
YES-,;ZQ'
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 6YF<GF{
1.3 光学薄膜特性的理论计算 rq![a};~
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 5j> olz=n}
习题 V|j{ #;
第2章 光学薄膜的设计理论 EWK? vs
2.1 矢量作图法 fx*Q,} t
2.2 有效界面法 @~C
C$Y$
2.3 对称膜系的等效层 MwTouEGGgA
2.4 导纳图解技术 s7"5NU-
习题 ?L+|b5RS
第3章 光学薄膜系统的设计 $8 WeWmY
3.1 减反射膜 >TG#
3.2 分束镜 ,iM dv+
3.3 高反射膜 h )h%y)1
3.4 干涉截止滤光片 SdN xSD$Q
3.5 带通滤光片 ~'VVCtA
3.6 特殊膜系 S0H|:J
习题 Zy=DY
参考文献 mu$rG3M
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 ~*hCTqH vN
第4章 薄膜制备技术 i#:M2&twE
4.1 真空淀积工艺 Ls/*&u
4.2 光学薄膜材料 v{pW/Fu~
4.3 薄膜厚度监控艺术 d-'BT(@:
4.4 膜层厚度的均匀性 YYF.0G}
习题 j|%>NB ):
参考文献 K: b^@>XH
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 =?[:Nj636
5.1 薄膜的形成过程 i 0'g$
5.2 薄膜的微观结构 ;"JgNad
5.3 薄膜的成分 C=8I Ql[^e
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 VYnB&3 %DF
5.5 薄膜微观结构和改善 N S){D7T
习题 P#-p* 4
参考文献 !112u#V
第三篇 光学薄膜检测技术 9yWSlbPr]
第6章 薄膜透射率和反射率测量 4P}d/w?'KL
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 B_S))3
6.2 薄膜反射率的测试 Q=t_m(:0
6.3 薄膜反射率的测量 qflOi8
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 ]e(\<R 6Gf
6.5 总结 iM M s3
习题 N14Q4v-*x
参考文献 GC7W7B
第7章 薄膜的吸收和散射测量 z uI7Px
7.1 激光量热计基本原理 =}'7}0M_=
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 5V8`-yO9
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 g1I8_!}~
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ta0 ;:o?/d
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 d#|%h]
6
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 JfR qOEP4Y
7.7 总结 dpcU`$kt
习题 GjyTM
参考文献 K6s tkDhb
第8章 薄膜光学常数的测量 BFZ\ \rN`
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 E&>;a!0b]
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 emI F{oP
8.3 薄膜波导法 {Zo*FZcaX
8.4 光学薄膜厚度的测试 %lGT |XrY
8.5 总结 L'O=;C"f
习题 }c=YiH,o
参考文献 zQoJ8 i>
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 /$^SiE +N
9.1 薄膜的力学特性检测技术 J|C CTXT
9.2 薄膜器件的环境试验 "qoJIwl#q
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 Lw`}o` D
9.4 总结 3:bP>l!
习题 8i
Ew;I_
参考文献 y\R-=Am".
附录 pV*d"~T
附录A 复数与复数运算 (dP9`Na]
A.1 复数的概念 S e |h]+G
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 (@Eb+8Zd
A.3 复数在物理中的运用 qdo_ YPG
附录B 矩陈及矩陈运算 >nO[5
B.1 矩陈的定义 j43i:c;F
B.2 矩陈运算 ]F #0to
附录C 光的电磁理论基础 Ict+|<f
C.1 振动与波 {BZ0x2
C.2 电磁波 cFHS MRB|P
C.3 麦克斯韦方程 \~.el Kw<U
C.4 平面电磁波 xP &@|Ag
C.5 平面电磁波性质 n/^QPR$>.
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 +/r h8?
附录D 光的干涉 kfq<M7y
D.1 波的叠加原理 [ZD`t ,x(
D.2 杨氏干涉 gF\a c%9
D.3 平板的表面干涉 $' KhA6 u
D.4 光的空间相干性和时间相干性 g_?bWm4br
附录E 光的偏振 }] . |7h
E.1 自然光和偏振光 W=4|ahk$
E.2 偏振光与Jones矩陈 [Vj|f y4
E.3 偏振光的获得 tDtqTB}
E.4 偏振光的检验
