现代光学薄膜技术 本书目录 (w-@b70E
第一篇 光学多层膜设计 *Qy,?2
第1章 光学薄膜特性的理论计算 j.+ }Z |
1.1 单色平面电磁波 ~2[mZias
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Y?\PU{ O
1.3 光学薄膜特性的理论计算 -YY@[ 5x?u
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 gmN$}Gy}
习题 nx@,oC4
第2章 光学薄膜的设计理论 ?Lbn R~/J
2.1 矢量作图法 ;&$f~P Q
2.2 有效界面法 d$:LUxM#
2.3 对称膜系的等效层 U3BhoD#f\
2.4 导纳图解技术 IC+!XZqS
习题 fT.M glJcb
第3章 光学薄膜系统的设计 Z ty9 O8g
3.1 减反射膜 r b*;4a
3.2 分束镜 75eZhs[b
3.3 高反射膜 "mc ] ^ O
3.4 干涉截止滤光片 lsKQZ@LN`
3.5 带通滤光片 ,M=s3D8C
3.6 特殊膜系 @ bZ,)R
习题 6Cgc-KNbk
参考文献 hkx (r5o
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 Lm*PHG
第4章 薄膜制备技术 dgT(] H
4.1 真空淀积工艺 dz1kQ zOU*
4.2 光学薄膜材料 6mV^a kapv
4.3 薄膜厚度监控艺术 #3_
@aq*
4.4 膜层厚度的均匀性 6UM1>xq9A
习题 Pxf /*z
参考文献 >tE 6^7B*
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 Iqq BUH
5.1 薄膜的形成过程 SE6 c3
5.2 薄膜的微观结构 qK]Om6 a~
5.3 薄膜的成分 HNd? '
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 ] E^)d|_
5.5 薄膜微观结构和改善 3,1HD _
习题 `o?PLE;)p
参考文献 | z?c>.
第三篇 光学薄膜检测技术 j7~Rw"(XQc
第6章 薄膜透射率和反射率测量 t]E@AJO K
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 : ZadPn56
6.2 薄膜反射率的测试 rUZ09>nDy
6.3 薄膜反射率的测量 P Dw BSj
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 lr ]C'dD
6.5 总结 .yB{ +
习题 2YK2t<EO
参考文献 Rd[^)q4d$w
第7章 薄膜的吸收和散射测量 GOD{?#c$
7.1 激光量热计基本原理 y7x*:xR [
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 r9n:[A&HE
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 *gOUpbtXa
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 ydMSL25<+
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 eU\XAN#@
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 %:Z_~7ZR
7.7 总结 dUv(Pu(.#
习题 m]Mm (7v(
参考文献 5]zH!>-F
第8章 薄膜光学常数的测量 LIn2&r:U
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 ,n$NF0^l
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 (U@$gkUx}G
8.3 薄膜波导法 F<DXPToX%
8.4 光学薄膜厚度的测试 u}89v1._Jn
8.5 总结 Fz ' s\
习题 vbf Qy2q
参考文献 s7,D}Zz
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 3~?m?vj|Y
9.1 薄膜的力学特性检测技术 *!ecb1U5
9.2 薄膜器件的环境试验 ZE9.r`
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 tac\K i?
9.4 总结 xqfIm%9i}
习题 C8D `:k
参考文献 !C ZFbz~:
附录 gt\kT n."
附录A 复数与复数运算 nO#x "
A.1 复数的概念 <`WcI`IA b
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 g} pD%
A.3 复数在物理中的运用 AWi+xo|
附录B 矩陈及矩陈运算 <6+T&Ov6
B.1 矩陈的定义 }
L _Zmi$
B.2 矩陈运算 7&u$^c S(
附录C 光的电磁理论基础 ] !n3j=*
C.1 振动与波 HlEHk'
C.2 电磁波 ;vy<!@Y;8
C.3 麦克斯韦方程 qG +PqK;
C.4 平面电磁波 TX;)}\
C.5 平面电磁波性质 ^0- e.@
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 5 v^tPGg4
附录D 光的干涉 ja6V*CWb
D.1 波的叠加原理 qg:EN~E#
D.2 杨氏干涉 :6]qr 86
D.3 平板的表面干涉 ]E6 r )C
D.4 光的空间相干性和时间相干性 rQ osI:$
附录E 光的偏振 } }Z2@}
E.1 自然光和偏振光 RFX{]bQp9
E.2 偏振光与Jones矩陈 kK/XYC
0D
E.3 偏振光的获得 eD7qc1*G
E.4 偏振光的检验
