现代光学薄膜技术 本书目录 l!Bc0
第一篇 光学多层膜设计 t{)Z$)'
第1章 光学薄膜特性的理论计算 CE :x;!}cd
1.1 单色平面电磁波 wPhN_XV
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 'n'83d)z
1.3 光学薄膜特性的理论计算 (dSf>p r2
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 R7'a/
习题 Sw##C
l#
第2章 光学薄膜的设计理论 Z+jgFl
4
2.1 矢量作图法 ?_S f
2.2 有效界面法 i1ph{;C
2.3 对称膜系的等效层 2^-Z17Z}
2.4 导纳图解技术 7D5;lM[_
习题 ?sF<L/P0
F
第3章 光学薄膜系统的设计 45cMG~]p
3.1 减反射膜 %onUCN<O`
3.2 分束镜
OC0dAxq
3.3 高反射膜 V0'T)
3.4 干涉截止滤光片 t- Rp_2t
3.5 带通滤光片
!'-K>.B
3.6 特殊膜系 :\
%.x3T'
习题 JzhbuWwF-
参考文献 [X >sG)0S~
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 YS$?Wz
第4章 薄膜制备技术 :H}a/ x*ur
4.1 真空淀积工艺 4]\f}
4.2 光学薄膜材料 +APf[ZpU
4.3 薄膜厚度监控艺术 3hzI6otKS
4.4 膜层厚度的均匀性 jY.iQBhjEB
习题 )ZkQWiP-
参考文献 FcR(uv<
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 -8-BVU
5.1 薄膜的形成过程 KEfn$\
5.2 薄膜的微观结构 jI`1>>N&1
5.3 薄膜的成分 L2v
j)(
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 h/9{E:ML
5.5 薄膜微观结构和改善 W'2a1E
习题 P%Fkd3e+
参考文献 {?-@`FR-
第三篇 光学薄膜检测技术 ]
i;xeo,
第6章 薄膜透射率和反射率测量 J{98x zb
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 JaC
=\\B
6.2 薄膜反射率的测试 7C7eXJ9q
6.3 薄膜反射率的测量 O0?.$f9 s
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 8"2
Y$*)(
6.5 总结 &w{""'
习题 zE"ME*ou
参考文献 eQBR*@x
第7章 薄膜的吸收和散射测量 {fsU(Jj\
7.1 激光量热计基本原理 MMs#Y1dH
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 -Fcg}\9
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 W_z2Fs"A
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 jR/YG
ru
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 fJ!i%</V
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 ~T<yp
7.7 总结 'qRK6}"T
习题 bv&A)h"S
参考文献 EYc, "'
第8章 薄膜光学常数的测量 ;g[C=yhK`C
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 g(d9=xq@k
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 _I;+p eq
8.3 薄膜波导法 xFZA18
8.4 光学薄膜厚度的测试 >YPC&@9
8.5 总结 hdB.u^!
习题 P.bBu
参考文献 np|3 os
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 :[#g_*G@p
9.1 薄膜的力学特性检测技术 p7b`Z>}
9.2 薄膜器件的环境试验 K\5'pp1
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测
t#s?:
9.4 总结 q'kZ3G
习题 _=RA-qZ"
参考文献 x \qS|q\N
附录 nZ?BCO
附录A 复数与复数运算 M{Ss?G4H
A.1 复数的概念 (yk^%
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Yk',a$.S
A.3 复数在物理中的运用 w,L P M+
附录B 矩陈及矩陈运算 [n/'JeG5
B.1 矩陈的定义 )zK`*Fa
az
B.2 矩陈运算 b>|3?G
附录C 光的电磁理论基础 k%w5V>]1
C.1 振动与波 [jl'5l d
C.2 电磁波 =j[zMO
C.3 麦克斯韦方程 YxH"*)N
C.4 平面电磁波 h>v;1QO9D
C.5 平面电磁波性质 wN,DTmtD
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 K5U=%z
附录D 光的干涉 FY%v \`@1*
D.1 波的叠加原理 I(fq4$
D.2 杨氏干涉 G%N/]]ll
D.3 平板的表面干涉 YDBQ6X
D.4 光的空间相干性和时间相干性 [; M31b3
附录E 光的偏振 F"O{eK0T
E.1 自然光和偏振光 6
W/S?F~{
E.2 偏振光与Jones矩陈 j I
E.3 偏振光的获得 Ui6f>0?
E.4 偏振光的检验