现代光学薄膜技术 本书目录 b& +zAt.
第一篇 光学多层膜设计 CpO_p%P
第1章 光学薄膜特性的理论计算 (c(F1=K
1.1 单色平面电磁波 hc3hU
1.2 平面电磁波在单一界布的反射和折射 Bzrn mz5S
1.3 光学薄膜特性的理论计算 0cq@lT 6
1.4 光学多层膜内的电场强度分布 ]8 \I{LR
习题 R J{$`d
第2章 光学薄膜的设计理论 +gX,r$bX
2.1 矢量作图法 ?`piie9V
2.2 有效界面法 yov~'S9
2.3 对称膜系的等效层 =EP`,zqn$9
2.4 导纳图解技术 < /{Zb.
习题 4w^o !
第3章 光学薄膜系统的设计 sQa;l]O:NC
3.1 减反射膜 2K9 1E}
3.2 分束镜 HeA XZA,
3.3 高反射膜 tp] 5[U
3.4 干涉截止滤光片 k{SGbC1=VK
3.5 带通滤光片 B-Jd|UE`u
3.6 特殊膜系 `FMo; ,j
习题 'w+]kt-
参考文献 {h?pvH_>
第二篇 薄膜制备技术和微结构特性 XMuZ}u[U
第4章 薄膜制备技术 B$_4 ul\)
4.1 真空淀积工艺 bQt:=>
4.2 光学薄膜材料
@'R)$:I%L
4.3 薄膜厚度监控艺术 .>B' oD
4.4 膜层厚度的均匀性 a{] =BY oL
习题 \)6glAtN
参考文献 ?bB>}:~j)
第5章 制备条件寺薄膜微观结构和成分的影响 VI2lw E3
5.1 薄膜的形成过程 k h
W .
5.2 薄膜的微观结构 U>E:
Ub0r
5.3 薄膜的成分 7Jf~Bn
5.4 微观结构和成分对薄膜特性的影响 ~T1W-ig4[*
5.5 薄膜微观结构和改善 I\. |\^
习题 tK%ie\
参考文献 Tc6cBe,
第三篇 光学薄膜检测技术 @V%\Gspv
第6章 薄膜透射率和反射率测量
b/'bhE=
6.1 光谱分析测试系统的基本原理 i. Rl&t
6.2 薄膜反射率的测试 >|QH
I
d8
6.3 薄膜反射率的测量 Zhq_ pus"a
6.4 利用激光谐振腔测量激光高反射镜的反射率与损耗 kv:9Fm\$
6.5 总结 N(&{~*YE
习题 n[3z_Q I
参考文献 a: "1LnvR
第7章 薄膜的吸收和散射测量 $o[-xNn1
7.1 激光量热计基本原理 +/ukS6>gr
7.2 光声、光热偏转法测量薄膜吸收 =0)|psCsM
7.3 薄膜散射的标量理论和总积分散射测量 P1eSx#3bR
7.4 散射光的矢量理论和角分布测量 (9]Uuvfp6"
7.5 谐振腔衰荡薄膜损耗检测法 aA`eKy) \
7.6 薄膜导波传播衰减系数法 +:FXtO>n"
7.7 总结 :; +!ID_
习题 NI V}hf YF
参考文献 <Ua~+U(FR0
第8章 薄膜光学常数的测量 <V hd4 c
8.1 从透射、反射光谱确定薄膜的光学常数 75# 8P?i
8.2 其他薄膜的光学常数测试方法 )eyzHB,H
8.3 薄膜波导法 \OwF! ~&
8.4 光学薄膜厚度的测试 axC|,8~tq
8.5 总结 *()['c#CC
习题 ] ,]Rv# `
参考文献 %B%_[<B
第9章 薄膜非光学特性的检测技术 cJo%j -AM
9.1 薄膜的力学特性检测技术 /Y0~BQC7!
9.2 薄膜器件的环境试验 0?7yM:!l
9.3 薄膜的微结构与化学成分检测 #J[g
r_
9.4 总结 Fw<"]*iu
习题 NL9.J @"b
参考文献 ]Ur/DRNS
附录 +A3/^C0
附录A 复数与复数运算 5|H;%T 3_
A.1 复数的概念 l~r;G rd/5
A.2 复数的三角函数及指数表示方法 Ydh Tjv x
A.3 复数在物理中的运用 !nBbt?*
附录B 矩陈及矩陈运算 f8Hq&_Pn
B.1 矩陈的定义 cE\w6uBR 1
B.2 矩陈运算 t<!m4Yd|#
附录C 光的电磁理论基础 KdEvu?
C.1 振动与波 (!}N&!t
C.2 电磁波 cIU2 qFn[
C.3 麦克斯韦方程 g NI1W@)
C.4 平面电磁波 h"`\'(,X
C.5 平面电磁波性质 uMcI'=
C.6 电磁波在介质表面的反射和折射 N^;lp<{6?
附录D 光的干涉 !1$x4 qxS
D.1 波的叠加原理 `^)`J
D.2 杨氏干涉 4$Ai!a
D.3 平板的表面干涉 i 8s v,P
D.4 光的空间相干性和时间相干性 ' @!&{N
附录E 光的偏振 c 9|4[_&B~
E.1 自然光和偏振光 Id=20og
E.2 偏振光与Jones矩陈 B7\4^6Tx
E.3 偏振光的获得 P27Ot1px
E.4 偏振光的检验
