专题0001
(K6`nWk2 zn
?;>Bl 构建具有渐变
折射率(GRIN)
透镜的
成像系统,并对该成像系统进行
光线追迹与场追迹分析。
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&[,nUd 关于此用例
M&ij[%i • 需要以下工具箱
6)U&XWH0 - 基本工具箱
~8m>DSs)D • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35)
J4}\V$ysN • 在此处获得免费试用版
rH9}nL 此用例展示了…
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=$^ • 如何构建GRIN透镜
ww($0A`ek • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。
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V"H7zx GRIN透镜的构建
b H?qijrC >NRz*h #
klJ[ {p b'1d<sD GRIN透镜:GRIN介质
G\+nWvV7 HD)HCDTX
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P"x-7>c>Y
@7s,|\ 系统设置:
探测器和连接
nbASpa( · 探测器说明:
-t6R!ZI − Electromagnetic Field Detector 用于探测
图像 !e'0jf-~ egvy#2b@
*sB-scD fHd!/%iG 仿真结果:光线追迹分析
mp,e9Nd; o~x39
`SjD/vNE 仿真结果:场追迹分析
6#)Jl MpA;cw]cI/
uUz`= 4%A 系统设置:寻找像面
N
2"3~ # 0R}Sw[M.
[DxefYyI em1cc, 仿真结果:光线分析和场追迹分析
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i6md fp|k ?JgO-. 文件&技术
信息 aw/7Z` "Ug/
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