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构建具有渐变折射率（GRIN）透镜的成像系统，并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 .6S]\dp7~
`r;e\Cp 关于此用例 H~x,\|l# • 需要以下工具箱 }<`Mn34@ - 基本工具箱 L/9f"%kZ • 此用例由VirtualLab Fusion生成（Build 7.0.0.35） Jx[Z[R O2 • 在此处获得免费试用版 mwLp~z%OX 此用例展示了… | W:JI • 如何构建GRIN透镜 \Ku6 gEy • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 =;Gy"F1 dp 'V=w?G
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D, GRIN透镜：GRIN介质 u1 d{|fF PW)XDo7  AA34JVm]
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S" · 探测器说明： KA1Z{7UK% − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 tj@IrwC^e" 3Tv;<hF  ]v96Q /a 1L.H " 仿真结果：光线追迹分析 F<y $Q0Z} GGHe{l  JJ l wzH 仿真结果：场追迹分析 Ftu~ nh} KZ^W@*`D
 Bgs3sM9 系统设置：寻找像面 Yy]^_,r 2lPj%i 5
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qXmkeidb&W 仿真结果：光线分析和场追迹分析 |,rIB H/m -$;cF3  xFcJyjo^z 7Z;bUMYtx
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