使用单像素太赫兹传感器检测材料中的隐藏缺陷

在工程和材料科学领域，检测材料中隐藏的结构或缺陷至关重要。传统的太赫兹成像系统依赖于太赫兹波的独特性质来穿透可见的不透明材料，已被开发用于揭示各种感兴趣材料的内部结构。

这种能力在工业质量控制、安全筛查、生物医学和国防等众多应用中提供了前所未有的优势。然而，大多数现有的太赫兹成像系统的吞吐量有限，设置庞大，需要光栅扫描来获取隐藏特征的图像。

使用单像素光谱探测器快速检测隐藏物体或缺陷的衍射太赫兹传感器示意图。

为了改变这种模式，加州大学洛杉矶分校Samueli工程学院和加州纳米系统研究所的研究人员开发了一种独特的太赫兹传感器，该传感器可以使用单像素光谱太赫兹探测器快速检测目标样品体积内隐藏的缺陷或物体。

与传统的逐点扫描和基于数字图像形成的方法不同，该传感器在单次快照中用太赫兹辐射照射测试样品的体积，而不需要形成或数字处理样品的图像。

该传感器由加州大学洛杉矶分校电气与计算机工程系主任艾多甘·奥兹坎博士和诺斯罗普·格鲁曼公司捐赠的教授莫娜·贾拉希博士领导，它是一种全光处理器，擅长搜索和分类由隐藏缺陷衍射引起的意外波源。该论文发表在《自然·通讯》杂志上。