基于超表面透镜阵列光学多参量成像研究获得突破
该研究成果能够实现对光束强度、偏振、相位等多维信息的实时成像，且具有工艺简单、系统集成度高的优点，将会在诸多光学探测、成像等领域有令人期待的应用前景。
 11月2日，《自然.通讯》（Nature Communications）在线发表了武汉光电国家研究中心夏金松教授团队和光电信息学院杨振宇教授团队合作论文“Generalized Hartmann-Shack array of dielectric metalens sub-arrays for polarimetric beam profiling”。光电信息学院杨振宇、汪肇坤博士和武汉光电国家研究中心王玉西博士为论文共同第一作者，夏金松和杨振宇为论文共同通讯作者。  自从150多年前麦克斯韦预言光是一种电磁波开始，人们就认识到了振幅、偏振、相位、频率是光波的基本参量，但如同我们的眼睛一样，目前的光探测器只能感知光的强度，而无法直接感知偏振与相位。因此人们大都需要在光探测器前增加一些分立元件。例如，传统偏振态探测系统需要在CCD前增加偏振片和四分之一波片，传统的Hartmann-Shack波前探测系统需要在CCD前增加微透镜阵列。这不仅增加了系统的重量、体积与复杂性，也带来了系统集成的难度。随着未来高性能、便携式、可穿戴光学设备与系统的发展，人们越来越期望具有小尺寸、低重量和多重功能的偏振态、波前光学探测系统。近年来，亚波长的介质超表面材料越来越受到人们的重视，由于其能够对光波的振幅、相位、偏振进行灵活的调控，且损耗小，因此成为了解决上述挑战最有希望的途径。  图1. 多维光学参量成像芯片原理示意图  图2.成像芯片的微结构显微照片 |
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