使用Essential Macleod进行薄膜设计 11月28-30日 上海

- 地点时间 -

主办单位：Thin Film Center Inc. & 讯技光电科技（上海）有限公司 

协办单位：常熟黉论教育咨询有限公司

授课时间：2018年11月28(三)-30(五) AM 9:00-PM 16:00

授课地点：上海（开课前两周邮件通知） 

- 专家介绍 -

Chris Clark先生是美国Thin Film Center的研发总裁，Essential Macleod软件的开发者之一。他毕业于苏塞克斯(Sussex)大学电子工程专业，是一名注册工程师。Chris Clark曾在布赖顿技术学院(Brighton Technical College)担任讲师职务，在各种系统（从雷达探测到光学检验）的计算机和软件开发中积累了大量经验，于1993年加入Thin Film Center。他主要负责Essential Macleod软件的开发工作。已在光学薄膜类的期刊上发表超过20篇论文。

- 课程特色 -

交互式的教学能激发与开拓学员的设计思路，结合原厂专家Chris Clark先生的讲解深入了解Essential Macleod 薄膜软件的设计理念，从而延伸到各自的领域，满足学员的需求。

- 课程简介 -

为满足广大学员的需要，本次课程为灵活的交互式课程，学员全程上机操作。课程大纲可根据课程进展情况及学员需求随时变动。该课程涵盖了薄膜设计方法，并且还包含薄膜性能的理解、薄膜制备工艺、逆向工程、材料的属性与测量、系统中的薄膜性能及常见薄膜案例等。本次课程期间给学员提供Essential Macleod 薄膜软件，对软件有无经验的学员皆可参加。聘请的讲师为软件原厂开发者，在薄膜领域有丰富的经验，同时课程中留有时间给学员和讲师互动和交流。

- 课程大纲 -

1.        介绍软件

1.1        运行程序

1.2        创建一个简单的设计

1.3        绘图和制表来表示性能

1.4        3D绘图-用两个变量绘图表示性能

1.5        创建一个默认设计

1.6        文件位置

2.        通过剪贴板和文件导入导出数据

3.        约定-程序中使用的各种术语的定义

3.1        厚度（物理厚度，光学厚度，几何厚度）

3.2        单位定义

3.3        软件如何进行数据插值

3.4        可用的材料模型（Sellmeier, Cauchy, Drude, Lorentz, Drude-Lorentz, Hartmann）