麻省理工利用新方法揭示光子晶体的内部特性

“在最佳的样品中都会存在这种有意为之的缺陷，”Regan说。“人们认为散射很弱，因为样品几乎是完美的”，但事实证明，在某些角度和频率的光散射很强；多达百分之50的入射光可以分散。在所有的可见光谱中，通过用不同的颜色的序列来照亮样品，可能建立相对于光束所采取的路径的一个完整的显示。散射光产生一个不同频率图形的直观视角，即当不同颜色光束在通过光子晶体时的弯曲情况的一系列地形图。

“这是一个非常美丽的、观察等频线非常直接的方式，”Soljacic说。“你只需要利用具有正确方向和频率的光照射在样品上，”获得的就是所需信息的直接图像，他说。

该研究小组说，这一发现可能对许多不同的应用方面都是有用的。例如，它可能会有助于实现一个大的、透明的显示屏幕，当痛殴一个窗口时大多数光会通过直接通过，而特定频率的光将被散射，从而会在屏幕上产生一个清晰的图像。或者，该方法可以用来作为私人显示器，只会为屏幕正前方的人显示可见。

因为它依赖于晶体的缺陷制造方法，该方法也可用于这些材料制造的质量控制措施；图像所提供的不仅是缺陷总量的指示，还有其具体性，即在样品上的主要无序性是来自于非圆形孔还是蚀刻不直等情况，而这些处理过程都是可以调整和改进的。

该小组成员还包括麻省理工大学电子研究实验室的研究人员，包括Yuichi Igarashi（现在在日本NEC公司），Ido Kaminer，Chia Wei Hsu（现在在耶鲁大学），和Yichen Shen。这项工作是由麻省理工学院纳米技术中心和美国陆军研究办公室，以及美国能源部的能源前沿中心资助支持。