摘要 眩光(Veiling Glare)是
成像光学系统设计领域经常使用的术语。从技术
角度讲,眩光是到达成像系统的
传感器平面的
杂散光,并且它可能会导致成像系统性能的下降。
;?z b ( 2 通常,为了得到准确的结果必须进行纯非
序列分析。然而,对于很多成像
光学系统,对前向散射效应的直观认识十分必要。这篇文章将要展示如何使用
ZEMAX内置的工具对一些基本的眩光进行测量。这个分析需要花费几分钟,并且会给出十分有用的结果。
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