CEO制造生产了一系列的用于高功率QCW的阵列产品。这些产品采用热膨胀系数匹配热沉技术以及硬封装技术,进而最大限度的提高器件的可靠性。这些产品的寿命测试结果在这里做了总结。这些测试量化了QCW阵列和相关激光增益模块的可靠性。这里给出了原始的寿命测试数据,并对其进行了统计分析。这些结论对于激光系统设计者是很有用的。该寿命测试展示了这些阵列在不同的运行区域的高水平的可靠性。如单条阵列的MTTF发射次数预测可高达198亿次,四条阵列的MTTF发射次数也测可高达146亿次。另外,也对一个大的泵浦源条件阵列的寿命进行了分析,可以看到预期的寿命为135亿次发射次数。这比在重复率低于370Hz的运行条件预期的运行寿命高了10000个小时。 t"oeQ*d%
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