CODE V 每日提示小技巧 是提取自CODE V程序,分享一下。 EnmMFxu<
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要在设置镜头时获得帮助,可在“工具”菜单上单击“基本选项”,并单击“用户界面”选项卡和选中“使用向导”区域中的“新建镜头”框。然后,在“文件”菜单上单击“新建”以启动“新建镜头向导”。 xLms|jS
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您可告知CODE V在阻拦光线时只使用分析选项中的默认孔径、用户自定义孔径或这二者。选择“镜头>系统数据,系统设置”并在“使用的孔径”框中进行选择。 'V8o["P
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您可定义多达99种不同的变焦位置。选择“镜头>变焦镜头”菜单以设置变焦位置。 .V\~#Ro$G
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镜头表面的默认涂层为SLAR膜层(膜层波长的1/4,MgF2材料)。要删除或更改膜层,可选择“镜头>表面属性,胶合/膜层”。 2
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全局优化可为您寻找替代的镜头/反射镜方案,所有这些方案均满足指定的约束,并且其中多数可能优于局部优化的初始系统。单击“优化”菜单上的“全局优化”。 _z1Qr?cY
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使用“痕迹图”选项(“分析>诊断”菜单)可显示光学表面的已用部分。 |`pBI0Sjo
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在添加“自定义玻璃”(“镜头”菜单)时,您可按波长(例如,普通)或色散公式来输入折射率数据,或者输入测量的熔体配合数据。 bSn={O"M
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“透射分析”选项(“分析>系统”菜单)可计算总的镜头透射情况,包括表面膜层和体吸收。在未指定其他条件情况下,它将假设在每个折射表面上膜层为参考波长峰值的四分之一波长厚度MgF2材料,并且在每个反射镜上为100%反射。 ?* r
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如果您的镜头为F/1.5或更快,您可能希望在进行衍射计算时启用偏振光线追迹。它将需要较长的执行时间,但可执行向量分析并具有更高的精度。在“镜头”菜单上单击“激活偏振光线追迹”。 }2\Hg
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在CODE V期望获得数字的任意位置,它都可接受任何数学表达式,包括Macro-PLUS数学函数和宏数据库值等。表达式应以“=”开头。 >;F}>_i
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如果您的镜头具有耦合变量或参数拾取,则生成默认公差(“检查>公差... 自动填充”按钮)时将自动生成耦合/分组的公差。如果不需要,可在生成默认公差之前删除参数拾取或复位耦合代码。 i3KAJ@
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“光瞳图”选项中包含打印HOE空间频率值图的功能。要访问该功能,可在“分析”菜单上单击“诊断”,并单击“光瞳图”。在“显示”选项卡上,单击“HOE空间频率图”单选按钮。 9V~hz (^
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输入光线网格间隔(DEL)的用户可通过AUTOGRID宏来查看每个视场优化期间使用的光线图案,包括渐晕情况。 lxbC 7?O
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要将光学塑料信息加载到您的镜头“自定义目录”中,可选择“工具>宏管理器”,并找到PLASTICPRV.SEQ宏。该宏将可加载丙烯酸酯、聚碳酸酯以及其他塑料的折射率数据。 >|gXE>
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在优化期间进行计算的误差函数同镜头文件保存在一起,并包含在“文件维护”选项的镜头文件列表中(“工具>文件维护”菜单)。 XR p60i6f
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“优化”选项使用的误差函数可基于RMS光斑尺寸、波前误差、光纤耦合效率、MTF或由用户自定义。 t/%[U,m
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波长权重可进行变焦并设为零以在某些变焦位置“关闭”特定的波长(“镜头>系统数据”菜单)。 !,{N>{I
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“视场像差”选项(FIE)中包含计算和绘制纵向球差图的功能(“分析>诊断>场曲”菜单)。 "vkM*HP
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对于远心系统,最好生成光线像差图和系统入瞳(而不是默认的光阑)。要做到这一点,可选择“入瞳”作为“光线像差图”选项中的坐标类型(“分析>诊断>光线像差曲线”菜单)。 a;kiAJ'
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您可绘制来自商用干涉仪的干涉数据文件以与原始干涉图进行比较。选择“显示>查看干涉图”。 ,`'A"]"
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出瞳OPD网格可配备Zernike多项式。参阅“光瞳图”选项(“分析>诊断>光瞳图”菜单)中的“Zernike系数”选项卡。 [9}<N2,9z
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在“视场图”选项(“分析>诊断”菜单)中的“全视场显示”选项卡上可为具有衍射属性的表面生成作为视场函数的衍射效率图。 4x=sJ%E
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“视场图”选项能将像散、各种形式的畸变、RMS波前误差、RMS光斑尺寸和指定的Zernike波前多项式系数作为视场函数加以绘制。参阅“全视场显示”选项卡(分析>诊断>视场图)。 mi5bk>o
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“点列图”选项还可为每个视场打印RMS光斑直径(“分析>几何”菜单)。 %,@e- &>
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要将艾里斑或检测器重叠到点列图中,可使用SPOTDET宏。选择“工具>宏管理器”菜单并找到“几何分析示例宏”类别中的SPOTDET.SEQ。 u@+^lRGFh
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“径向能量分析”选项可计算基于几何(无衍射)的包围分布能量(“分析>几何”菜单)。 qC=ZH#
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通过“点扩散函数”选项中“计算”选项卡上的“近场传播”控制,可生成近场(菲涅耳)衍射图案(“分析>衍射”菜单)。 !:uh? RW
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INDEX宏函数可用于求出在梯度折射率玻璃中指定坐标位置上的折射率。 OMab!
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SAGF宏函数可用于求出表面上指定的X,Y坐标位置上的表面矢高。 %RzkP}1>E
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ZFRCOEF宏函数可用于计算指定波长及视场的指定条纹Zernike系数。该函数还可用于优化期间瞄准特定的系数。 <K/iX%b?
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