切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 16553阅读
    • 26回复

    [讨论]Tracepro杂散光分析-PST理论和计算 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线yazhuge
     
    发帖
    1442
    光币
    581767635
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2011-02-20
    有三个问题: t.]c44RY  
    QAK.Qk?Qu  
    1.PST是为离轴角为θ的点光源光学系统在像面上产生的辐射照度E( θ) 与该点光源位于轴上时产生的辐射照度E(0)的比值,这个PST是怎么表示系统的消光能力的??是不是假设了对于轴上点没有杂光??但是实际上轴上点不可能没有杂光的啊? gA~faje  
    :rX/I LAr  
    2.PST是E(θ)/E(0),对应到Tracepro里面irradiation/illumination map里面显示的AVE在不同θ角下的比值?? -nKBSls  
    x|IG'R1:Y  
    3。TP追迹的时候,计算E(0)和E(θ)时,是不是要时刻保证光线全部充满第一片镜片的口径?如果是的话,就需要光源的口径有适当的变化,光源尺寸变化会导致能量的分布变化,从而带来模拟的误差,正确的方法应该是什么呢?? n+;PfQ|  
    G8ksm2}  
    谢谢,希望指点!
     
    分享到
    离线yazhuge
    发帖
    1442
    光币
    581767635
    光券
    0
    只看该作者 1楼 发表于: 2011-02-20
    顶一下,希望高手指点一二!~
    离线yu-xuegang
    发帖
    1566
    光币
    19405
    光券
    3
    只看该作者 2楼 发表于: 2011-02-21
    第一 PST是为离轴角为θ的点光源经光学系统在像面上产生的辐射照度E( θ) 与该点光源位于轴上时产生的辐射照度E(0)的比值。这一理解是对的,实际的实验测量杂光也是采用这种方法。轴上同样也有杂光,这个比值只起到归一化的左右。 oNV(C'A  
    第二 这一说法是对的。 4$+9k;m'  
    第三 点光源是发光球体。只有电源距离镜头的变化会影响系统的杂光系数,其他情况不会。
    离线yazhuge
    发帖
    1442
    光币
    581767635
    光券
    0
    只看该作者 3楼 发表于: 2011-02-21
    回 2楼(yu-xuegang) 的帖子
    对于照相物镜来说,点源实际上就是平行光,所以E( θ)应该是以一定角度入射的平行光?~
    离线yazhuge
    发帖
    1442
    光币
    581767635
    光券
    0
    只看该作者 4楼 发表于: 2011-02-22
    我现在唯一不明白就是计算PST的时候,光源是采用平行光,还是与光轴相对于入瞳位置成一定夹角的点光源?~希望指点!
    离线yazhuge
    发帖
    1442
    光币
    581767635
    光券
    0
    只看该作者 5楼 发表于: 2011-02-22
    回帖赚积分的真讨厌~发个帖子很快就给弄到后面去了~想赚积分去灌水的部分啊~!
    离线2186
    发帖
    20
    光币
    320
    光券
    0
    只看该作者 6楼 发表于: 2011-02-26
    同样在搞杂散光分析,进来学习。
    离线NeoHimmel
    发帖
    12
    光币
    61
    光券
    0
    只看该作者 7楼 发表于: 2011-03-03
    第三、可以考慮用Grid Source放在第一片鏡片前面,尺寸約等於第一片鏡片,在Beam Setup的地方修改Beam Orientation Method為Direction Vectors,Normal Vector用=tan(30*pi/180)修改入射光角度,這樣就不用一直修改光源尺寸了
    离线NeoHimmel
    发帖
    12
    光币
    61
    光券
    0
    只看该作者 8楼 发表于: 2011-03-03
    用點光源的話,只有在點光源離第一片鏡片很遠的時候才"近似"平行光,點光源位置不好決定 1"odkM  
    而且還要動用Important Sampling,小麻煩 3 XfXMVm  
    用Grid Source可以方便使用Macro Scheme或DDE修改入射角度及收集Flux數據,工程師就可以不用在電腦邊苦等了 ]V@! kg(p8  
    离线568626608
    发帖
    96
    光币
    6
    光券
    0
    只看该作者 9楼 发表于: 2011-03-04
    都牛,我听晕啦