浙江大学光学薄膜设计软件 <Lxp t
Autofilm 1.0功能简介 oe|;>0yf
Autofilm 1.0是浙江大学薄膜研究所开发的一套光学薄膜计算机辅助设计系统，它包括光学薄膜特性计算、优化设计和监控误差模拟三大模块。各个模块的基本功能如下： a@|H6:|
UQ;2g\([
l 特性计算： 给定膜系每层的折射率和光学厚度，以及基板、入射介质等参数，求得各个波长上的光学特性。 fpC":EX@r
（1） 可以计算特定波长和入射角的反射率、透过率、反射位相变化、透射位相变化等特性值。 %cUC~, g_(
（2） 绘制透、反射率，位相变化相对于波长和入射角的曲线。 &oHr]=xA
（3） 绘制特定波长、入射角下的导纳图。 ^p9V5o
（4） 可计算有吸收、色散的膜系，系统提供了材料库，用户可自行修改材料库中的值和新增材料。 se2Y:v
p_&B+
<z
l 优化设计：给定特定波长和入射角情况下所要求的特性，求出膜系的结构。 'Rsr*gX#
（1） 可以针对特定波长和角度下各种偏振状态的反射率、透过率、位相变化、位相变化差等条件进行优化。 rCczQ71W
（2） 系统中提供了五种优化合成的方法：Powell共轭法和单纯形法这两种局域搜索的方法；统计试验法和遗传算法这两种带有随机性质的搜索方法；Needle方法这种自动合成的方法。 pL;e(lM
（3） 各种优化合成的方法可以随时中断并交替使用。 W'"?5} (
N '&>bO?@`
l 监控误差模拟：给定材料折射率及监测信号误差，用计算机模拟最后得到的膜系结构，分析成品率。 Y,}h{*9Kd
（1） 可以针对每一层输入折射率的误差范围，同时输入总的信号监测误差，计算并绘制出最后的特性曲线。从曲线的离散程度可以分析出成品率的高低。 Xxd D)I
（2） 同时给出模拟得到的膜系结构。
